Scanning electron microscope (SEM,

Scanning electron microscope (SEM, JEOL JSM-7000F) was applied to observe the morphologies of ZnO nanowire arrays.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

มีใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM, JEOL JSM-7000F) สังเกต morphologies ของ ZnO nanowire อาร์เรย์

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM, JEOL JSM-7000F) ถูกนำมาใช้ในการสังเกตรูปร่างลักษณะของ ZnO อาร์เรย์เส้นลวดนาโน

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM jsm-7000f Jeol ) ถูกนำมาใช้เพื่อสังเกตลักษณะของ ZnO nanowire อาร์เรย์ .