Developing a self-testing approach

Developing a self-testing approach that reduces test cost and accelerates time-to-market without exacerbating the
quality of the IC is too challenging because the quality of the test methodology has direct consequences on the price and the
quality of the final product [8]. This work proposes a faulttolerant technique which can detect and correct hard faults. In
this paper, we propose a Self-Testing and Self-repair methodology based on the use of a Built-In current Sensor (BICS) that enables the detection of faults in analog circuits.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

พัฒนาวิธีการทดสอบด้วยตนเองที่ลดต้นทุนการทดสอบ และเพิ่มความเร็วเวลาตลาดไม่ดีคุณภาพของ IC จะท้าทายมากเกินไปเนื่องจากคุณภาพของวิธีการทดสอบมีผลกระทบโดยตรงในราคาและคุณภาพของผลิตภัณฑ์ขั้นสุดท้าย [8] งานนี้เสนอเทคนิค faulttolerant ซึ่งสามารถตรวจสอบ และแก้ไขข้อบกพร่องของฮาร์ดดิสก์ ในกระดาษนี้ เราเสนอวิธีการทดสอบด้วยตนเอง และซ่อมแซมตัวเองที่ตามการใช้ของมีปัจจุบันเซ็นเซอร์ (BICS) ที่ช่วยให้การตรวจพบข้อบกพร่องในวงจรแอนะล็อก

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

การพัฒนาวิธีการที่ตัวเองทดสอบที่ช่วยลดค่าใช้จ่ายในการทดสอบและเร่งเวลาในการตลาดโดยไม่รุนแรงคุณภาพของ IC เป็นสิ่งที่ท้าทายเกินไปเพราะคุณภาพของวิธีการทดสอบมีผลกระทบโดยตรงต่อราคาและคุณภาพของผลิตภัณฑ์ขั้นสุดท้าย[8] . งานนี้นำเสนอเทคนิค faulttolerant ซึ่งสามารถตรวจจับและแก้ไขความผิดพลาดอย่างหนัก ในบทความนี้เราจะนำเสนอวิธีการทดสอบตัวเองและการซ่อมแซมตัวเองขึ้นอยู่กับการใช้งานของตัวเซนเซอร์ในปัจจุบัน (BICS) ที่ช่วยให้การตรวจสอบความผิดพลาดในวงจรแอนะล็อก

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การพัฒนาตนเอง การทดสอบวิธีการที่ลดต้นทุนการทดสอบและเร่งเวลาในการตลาดไร้ขอบเขต
คุณภาพ IC ก็ท้าทาย เพราะคุณภาพของการทดสอบวิธีการที่ได้ผลในราคาและคุณภาพของผลิตภัณฑ์สุดท้าย
[ 8 ] งานนี้นำเสนอเทคนิค faulttolerant ซึ่งสามารถตรวจจับและแก้ไขยาก ความผิดพลาด ใน
กระดาษนี้เราขอทดสอบด้วยตนเองและวิธีการซ่อมด้วยตนเองบนพื้นฐานของการใช้ในตัวเซ็นเซอร์ปัจจุบัน ( บิกส์ ) ที่ช่วยให้การตรวจหาข้อบกพร่องในวงจรอนาล็อก