After the growth of the ZnO nanorods and nanotubes with and without a NiO buffer layer, SEM was used to investigate the morphology of the prepared samples.
หลังจากที่การเจริญเติบโตของแท่งนาโนซิงค์ออกไซด์และท่อนาโนที่มีและไม่มีชั้นบัฟเฟอร์ NiO, SEM ถูกใช้ในการตรวจสอบลักษณะทางสัณฐานวิทยาของตัวอย่างที่เตรียมไว้