The method was developed to analyse Al, Ba, Ca, Cr, Cu, Fe, Mg,
Mn, Ni, P, Pb, S, Si, Ti, V, and Zn in liquid petroleum products by 2.3.1. Measurement by WD-XRF
2.3.1.1. Determination of the matrix composition. According to the
consulted literature [15], there is an important matrix effect in sulphur
analysis by WD-XRF due to variations in the elemental composition
of the material to analyse. It is known that variations in
oxygen content and/or the C:H mass ratio of the petroleum product
under test will produce significant variations in measured values
[15,16]. The use of a diluent to get the same matrix in standards
and samples is only possible if the concentration of the elements
to measure is high enough, that is, their value is not near the detection
limit of the method.
In order to know the composition of the matrix of all the materials
used in the study, C, H, N, S, and O were analysed using an elemental
analyser model TruSpec CHNSO from LECO.
2.3.1.2. Measurement conditions. One of the main points in the setup
of the new methodology was to optimise the measurement conditions.
For each element analysed by WD-XRF (Al, Ba, Ca, Cr, Cu,
Fe, Mg, Mn, Ni, P, Pb, S, Si, Ti, V, and Zn), the analytical line, crystal,
detector, power, angle, background, PHD (Pulse High Distribution)
and time measurement were optimised [12,13,17]. In the consulted
literature, measurement times of 300 s were necessary to
obtain good results in the analysis of sulphur [15], while with
the instrument used in this study and the optimisation of the measurement
conditions, lower times were enough to obtained good
results not only in sulphur but also in all the elements analysed.
Table 2 shows the optimal measurement conditions for each
element.
The order of measurement of the elements was according to
their atomic number, measuring first the heaviest ones.
For sulphur analysis, crystal Ge 111 was used instead of PET,
used in the literature consulted [14], because it is more appropriate for the analysis of this element as it has higher resolution
capability.
About the analysis of Pb, La line was used because it is more
sensitive and it was known that the standards and samples measured
in this study did not have arsenic in their composition. In
those cases where no information about the sample is available,
Pb will have to be analysed using its Lb line, as Ka line of As interferes
with La line of Pb. Whenever the analyst knows the absence
of As, the analytical line for Pb will be La line, as it is more sensitive
to analyse traces.
For an oil matrix containing, for example, 12% w/w H and 88%
w/w C, infinite thickness approximately equals 0.01 cm, 0.15 cm,
0.4 cm, 0.6 cm, and 2 cm for S, V, Fe, Ni, and Se Ka energies, respectively
[18]. As all the elements analysed in this study are less heavy
than Se, a thickness of 2 cm was used in all measurements to assure
the infinitive thickness.
In this study, where very low concentrations of the elements are
analysed, it was found that the X-ray cells used for the measurement
could not be recycled as bad results were obtained, different
from other studies where elements at percentage level were analysed
and good results were obtained recycling these cells. Furthermore,
samples could only be analysed once, otherwise an increase
in the signal intensities was observed, as in the literature [14,19].
The total analysis time with this method is 20 min approximately,
corresponding only to the measuring time by WD-XRF as
no sample preparation is needed, much faster than other methods
that use techniques such as ICP-OES, atomic absorption spectrometry,
graphite furnace atomic absorption spectrometry or inductively
coupled plasma with mass spectrometry (ICP-MS), were
sample preparation, normally consisting in a process of dry ashing,
is a laborious process [2,20,21]. Besides, during the sample preparation
for the measurement by these techniques, there is a possibility
of potential loss of volatile analytes, mostly vanadium and
sulphur, due to the high temperatures reached in the dry ashing
process [2,21]; problem that does not occur in the measurement
by WD-XRF. To assure that no deterioration of the X-ray film
วิธีการถูกพัฒนาขึ้นเพื่อวิเคราะห์อัล Ba, Ca, Cr, Cu, Fe, MgMn, Ni, P, Pb, S, Si, Ti, V และ Zn ในผลิตภัณฑ์ปิโตรเลียมเหลวโดย 2.3.1 โดย WD XRF2.3.1.1. กำหนดองค์ประกอบของเมทริกซ์ ตามปรึกษาสาขาวรรณกรรม [15], มีผลสำคัญเมทริกซ์ในซัลเฟอร์วิเคราะห์ ด้วย WD XRF เนื่องจากการเปลี่ยนแปลงในองค์ประกอบธาตุวัสดุวิเคราะห์ เป็นที่รู้จักกันที่ต่างกันปริมาณออกซิเจนหรืออัตราส่วนโดยมวลของ C:H ของผลิตภัณฑ์ปิโตรเลียมภายใต้การทดสอบจะทำการเปลี่ยนแปลงอย่างมีนัยสำคัญของค่าที่วัดได้[15,16] การใช้จ่ายเพื่อให้ได้เมทริกซ์ในมาตรฐานเดียวกันและตัวอย่างถูกต้องได้ความเข้มข้นขององค์ประกอบวัดสูงพอ คือ ความเป็นการตรวจสอบข้อจำกัดของวิธีการเพื่อทราบองค์ประกอบของวัสดุทั้งหมดใช้ในการศึกษา C, H, N, S และ O ถูกวิเคราะห์โดยใช้เป็นธาตุวิเคราะห์รุ่น TruSpec CHNSO จาก LECO2.3.1.2 การวัดสภาวะ ประเด็นหลักในการตั้งค่าอย่างใดอย่างหนึ่งของวิธีการใหม่คือการ ปรับเงื่อนไขการวัดสำหรับแต่ละองค์ประกอบโดย WD XRF (อัล Ba, Ca, Cr, CuFe, Mg, Mn, Ni, P, Pb, S, Si, Ti, V และ Zn), สายวิเคราะห์ คริสตัลเครื่องตรวจจับ มุม พลังงาน พื้น หลัง PHD (ชีพจรสูงกระจาย)และการวัดเวลาเหมาะสม [12,13,17] ในการปรึกษาวรรณคดี การวัดเวลา 300 s ถูกต้องได้รับผลลัพธ์ที่ดีในการวิเคราะห์ของซัลเฟอร์ [15], ในขณะที่มีเครื่องมือที่ใช้ในการศึกษานี้และการเพิ่มประสิทธิภาพของการวัดเงื่อนไข ครั้งล่างได้พอที่จะรับได้ดีผลลัพธ์ไม่เพียง ในซัลเฟอร์ แต่ยังอยู่ ในทุกองค์ประกอบการวิเคราะห์ตารางที่ 2 แสดงเงื่อนไขการวัดที่เหมาะสมสำหรับแต่ละองค์ประกอบการเป็นไปตามลำดับของการวัดองค์ประกอบของเลขอะตอม วัดแรกหนักที่สุดสำหรับการวิเคราะห์ซัลเฟอร์ คริสตัล Ge 111 ใช้แทน PETใช้ในวรรณคดีปรึกษา [14], เพราะมันเป็นที่เหมาะสมสำหรับการวิเคราะห์องค์ประกอบนี้มีความละเอียดสูงกว่าความสามารถในเกี่ยวกับการวิเคราะห์ของ Pb, La บรรทัดถูกใช้เพราะเพิ่มเติมมีความสำคัญและเป็นที่รู้จักกันว่า มาตรฐานและตัวอย่างวัดในการศึกษานี้ไม่มีสารหนูในองค์ประกอบของพวกเขา ในกรณีที่ไม่มีข้อมูลเกี่ยวกับตัวอย่างที่มีอยู่Pb จะต้องวิเคราะห์โดยใช้บรรทัดของปอนด์ เป็นเส้น Ka ตามรบกวนกับลาสายของ Pb เมื่อใดก็ ตามที่นักวิเคราะห์รู้ว่าการขาดงานของ บรรทัดการวิเคราะห์สำหรับ Pb จะเป็น La เส้น มีความไวในการวิเคราะห์ร่องรอยสำหรับเมทริกซ์การน้ำมันที่ประกอบด้วย เช่น 88% และ 12% w/w Hw/w C อนันต์หนาประมาณเท่ากับ 0.01 ซม. 0.15 ซม.ซม. 0.4, 0.6 ซม. และ 2 ซม.สำหรับ S, V, Fe, Ni และ Se Ka พลังงาน ตามลำดับ[18] วิเคราะห์องค์ประกอบในการศึกษานี้ทั้งหมดเป็นหนักน้อยกว่า Se หนา 2 ซม.ใช้ในการประเมินทั้งหมดเพื่อให้มั่นใจความหนา infinitiveในการศึกษานี้ ที่มีความเข้มข้นที่ต่ำมากขององค์ประกอบวิเคราะห์ ก็พบว่าเซลล์เอ็กซเรย์ที่ใช้สำหรับการประเมินไม่สามารถรีไซเคิลเป็นผลไม่ได้รับ แตกต่างกันจากการศึกษาอื่น ๆ ที่มีวิเคราะห์องค์ประกอบในระดับเปอร์เซ็นต์และผลลัพธ์ที่ดีได้รับการรีไซเคิลเซลล์เหล่านี้ นอกจากนี้ตัวอย่างอาจจะวิเคราะห์ครั้ง อย่างอื่นเพิ่มขึ้นในความเข้มสัญญาณพบว่า เหมือนในวรรณคดี [14,19]เวลาวิเคราะห์รวม ด้วยวิธีนี้คือ 20 นาทีโดยประมาณที่สอดคล้องกับเวลาวัดโดย WD XRF เป็นเท่านั้นการเตรียมตัวอย่างไม่จำเป็นต้อง เร็วกว่าวิธีอื่น ๆที่ใช้เทคนิคเช่น ICP-OES, spectrometry ดูดกลืนโดยอะตอมกราไฟท์เตาดูดกลืนโดยอะตอม spectrometry หรือ inductivelyมีพลาคู่กับรเมท (ICP MS),การเตรียมตัวอย่าง โดยปกติประกอบด้วยกระบวนการของ ashing แห้งเป็นกระบวนการลำบาก [2,20,21] นอกจากนี้ ในระหว่างการเตรียมตัวอย่างสำหรับการวัดด้วยเทคนิคเหล่านี้ มีความเป็นไปได้ความสูญเสียอาจเกิดความผันผวน analytes วานาเดียมเป็นส่วนใหญ่ และซัลเฟอร์ เนื่องจากอุณหภูมิสูงถึง ashing แห้งประมวล [2,21]; ปัญหาที่เกิดขึ้นในการวัดโดย WD-XRF เพื่อให้มั่นใจว่าไม่มีการเสื่อมสภาพของฟิล์มเอ็กซ์เรย์
การแปล กรุณารอสักครู่..

วิธีการที่ได้รับการพัฒนาเพื่อวิเคราะห์อัลบา, CA, Cr, Cu, Fe, Mg,
Mn, Ni, P, ตะกั่ว, S, Si, Ti, V และ Zn ในผลิตภัณฑ์ปิโตรเลียมเหลว 2.3.1 วัดโดย WD-XRF
2.3.1.1 ความมุ่งมั่นขององค์ประกอบเมทริกซ์ ตามที่
วรรณกรรมปรึกษา [15] มีผลกระทบสำคัญในเมทริกซ์กำมะถัน
วิเคราะห์โดย WD-XRF เนื่องจากการเปลี่ยนแปลงของธาตุองค์ประกอบ
ของวัสดุในการวิเคราะห์ เป็นที่ทราบกันว่าการเปลี่ยนแปลงใน
ปริมาณออกซิเจนและ / หรือ C: H อัตราส่วนโดยมวลของผลิตภัณฑ์ปิโตรเลียม
ภายใต้การทดสอบจะผลิตที่สำคัญในรูปแบบค่าที่วัด
[15,16] การใช้เจือจางที่จะได้รับเมทริกซ์เหมือนกันในมาตรฐาน
และตัวอย่างจะเป็นไปได้ถ้ามีความเข้มข้นขององค์ประกอบ
ในการวัดสูงพอนั่นคือค่าของพวกเขาไม่ได้อยู่ใกล้กับการตรวจสอบ
ขีด จำกัด ของวิธีการ.
เพื่อที่จะทราบองค์ประกอบ ของเมทริกซ์ของวัสดุทั้งหมดที่
ใช้ในการศึกษา, C, H, N, S, O และถูกนำมาวิเคราะห์โดยใช้ธาตุ
รูปแบบการวิเคราะห์ TruSpec CHNSO จาก LECO.
2.3.1.2 เงื่อนไขการวัด หนึ่งในจุดหลักในการตั้งค่า
ของวิธีการใหม่เพื่อเพิ่มประสิทธิภาพการเงื่อนไขการวัด.
สำหรับแต่ละองค์ประกอบวิเคราะห์โดย WD-XRF (อัลบา, CA, Cr, Cu,
Fe, Mg, Mn, Ni, P, ตะกั่ว S, Si, Ti, V และ Zn), สายการวิเคราะห์, คริสตัล,
เครื่องตรวจจับพลังงาน, มุมมอง, พื้นหลังปริญญาเอก (Pulse การแพร่กระจายสูง)
และการวัดเวลามีประสิทธิภาพสูงสุด [12,13,17] ในปรึกษา
วรรณกรรมครั้งการวัด 300 S มีความจำเป็นที่จะ
ได้รับผลดีในการวิเคราะห์ของกำมะถัน [15] ในขณะที่มี
เครื่องมือที่ใช้ในการศึกษาครั้งนี้และการเพิ่มประสิทธิภาพของการวัด
สภาพครั้งที่ต่ำก็เพียงพอที่จะดีได้รับ
ผลไม่ได้ เฉพาะในกำมะถัน แต่ยังอยู่ในองค์ประกอบทั้งหมดที่วิเคราะห์.
ตารางที่ 2 แสดงเงื่อนไขการวัดที่ดีที่สุดสำหรับแต่ละ
องค์ประกอบ.
ลำดับของการวัดขององค์ประกอบที่ถูกตาม
เลขอะตอมของพวกเขาวัดแรกคนที่หนักที่สุด.
สำหรับการวิเคราะห์กำมะถันคริสตัล Ge 111 เป็น ใช้แทน PET,
ใช้ในวรรณคดีปรึกษา [14] เพราะมันเป็นที่เหมาะสมมากขึ้นสำหรับการวิเคราะห์องค์ประกอบนี้มันมีความละเอียดสูงกว่า
ความสามารถ.
เกี่ยวกับการวิเคราะห์ของ Pb ลาบรรทัดถูกนำมาใช้เพราะมันเป็นมากขึ้น
มีความละเอียดอ่อนและมันก็เป็น ที่รู้จักกันว่ามาตรฐานและตัวอย่างวัด
ในการศึกษานี้ไม่ได้มีสารหนูในองค์ประกอบของพวกเขา ใน
กรณีที่ข้อมูลเกี่ยวกับตัวอย่างไม่สามารถใช้ได้
Pb จะต้องมีการวิเคราะห์โดยใช้สาย Lb ของมันเป็นเส้นกา ณ รบกวน
กับลาสายของตะกั่ว เมื่อใดก็ตามที่นักวิเคราะห์รู้กรณีที่ไม่มี
ของในฐานะที่เป็นสายการวิเคราะห์ Pb จะลาสายมันเป็นความสำคัญมากขึ้น
ในการวิเคราะห์ร่องรอย.
สำหรับเมทริกซ์น้ำมันที่มีตัวอย่างเช่น 12% w / W H และ 88%
w / W C ความหนาอนันต์ประมาณเท่ากับ 0.01 ซม. 0.15 ซม.,
0.4 ซม., 0.6 ซม. และ 2 ซม. สำหรับ S, V, Fe, Ni, SE และ Ka พลังงานตามลำดับ
[18] ในฐานะที่เป็นองค์ประกอบทั้งหมดที่วิเคราะห์ในการศึกษาครั้งนี้จะหนักน้อย
กว่า Se มีความหนา 2 ซม. ที่ใช้ในการวัดทั้งหมดเพื่อให้มั่นใจ
ความหนา infinitive ได้.
ในการศึกษานี้ที่มีความเข้มข้นต่ำมากขององค์ประกอบที่มีการ
วิเคราะห์พบว่า X เซลล์ -ray ใช้สำหรับการวัด
ไม่สามารถนำกลับมาใช้เป็นผลที่ไม่ดีที่ได้รับแตกต่าง
จากการศึกษาองค์ประกอบอื่น ๆ ที่อยู่ในระดับร้อยละถูกนำมาวิเคราะห์
และผลดีที่ได้รับการรีไซเคิลเซลล์เหล่านี้ นอกจากนี้
กลุ่มตัวอย่างสามารถเฉพาะการวิเคราะห์ครั้งมิฉะนั้นการเพิ่มขึ้น
ในความเข้มของสัญญาณก็สังเกตเห็นเช่นเดียวกับในวรรณกรรม [14,19].
เวลารวมการวิเคราะห์ด้วยวิธีนี้คือ 20 นาทีโดยประมาณ
ที่เกี่ยวข้องเฉพาะกับเวลาที่วัดโดย WD- XRF เป็น
ไม่มีการเตรียมตัวเป็นสิ่งจำเป็นเร็วกว่าวิธีการอื่น ๆ
ที่ใช้เทคนิคเช่น ICP-OES, spectrometry ดูดซึมอะตอม
เตากราไฟท์อะตอม spectrometry การดูดซึมหรือ inductively
พลาสม่าคู่กับมวลสาร (ICP-MS) เป็น
ตัวอย่างการเตรียมปกติประกอบด้วย ในกระบวนการของการ ashing แห้ง
เป็นกระบวนการที่ลำบาก [2,20,21] นอกจากนี้ในระหว่างการเตรียมตัวอย่าง
สำหรับการวัดโดยใช้เทคนิคเหล่านี้มีความเป็นไปได้
ของการสูญเสียที่อาจเกิดขึ้นจากความผันผวนวิเคราะห์ส่วนใหญ่วานาเดียมและ
กำมะถันเนื่องจากอุณหภูมิสูงถึงใน ashing แห้ง
กระบวนการ [2,21]; ปัญหาที่ไม่ได้เกิดขึ้นในวัด
โดย WD-XRF เพื่อให้มั่นใจว่าการเสื่อมสภาพของฟิล์มเอ็กซ์เรย์ไม่มี
การแปล กรุณารอสักครู่..

จึงได้พัฒนาวิธีการวิเคราะห์ อัล บา , CA , โครเมียม , ทองแดง , เหล็ก , แมกนีเซียม ,แมงกานีส , Ni , P , PB , S , ศรี , Ti , V , และสังกะสีในผลิตภัณฑ์ปิโตรเลียมเหลวโดย 2.3.1 . การวัดโดย wd-xrf2.3.1.1 . การหาเมทริกซ์องค์ประกอบ ไปตามปรึกษาวรรณกรรม [ 15 ] มีสำคัญต่อเมทริกซ์ในซัลเฟอร์การวิเคราะห์โดย wd-xrf เนื่องจากการเปลี่ยนแปลงในองค์ประกอบของธาตุของวัสดุ เพื่อวิเคราะห์ มันเป็นที่รู้จักกันว่า การเปลี่ยนแปลงในปริมาณออกซิเจน และ / หรือ C : H อัตราส่วนโดยมวลของผลิตภัณฑ์ปิโตรเลียมภายใต้การทดสอบจะผลิตการเปลี่ยนแปลงที่สำคัญในการวัดค่า[ 15,16 ] ใช้ของที่เตรียมให้เมทริกซ์ในมาตรฐานเดียวกันและตัวอย่างที่เป็นไปได้เฉพาะถ้าความเข้มข้นขององค์ประกอบวัดสูงพอ นั่นคือค่าของพวกเขาคือการไม่ใกล้ข้อจำกัดของวิธีการเพื่อที่จะรู้ว่าองค์ประกอบของเมทริกซ์ของวัสดุทั้งหมดที่ใช้ในการศึกษา , C , H , N , S และ O วิเคราะห์การใช้ธาตุchnso truspec แบบจำลองวิเคราะห์จาก LECO .2.3.1.2 . เงื่อนไขของการวัด หนึ่งในประเด็นหลักในการตั้งค่าของวิธีการใหม่ที่จะปรับสภาพการวัดสำหรับแต่ละองค์ประกอบที่วิเคราะห์ โดย wd-xrf ( อัล บา แคลเซียม โครเมียม ทองแดงFe , Mg , MN , N , P , PB , S , ศรี , Ti , V , และสังกะสี ) , เชิงเส้น , คริสตัล ,เครื่องตรวจจับ , พลังงาน , มุม , พื้นหลัง , ปริญญาเอก ( ชีพจรกระจายสูง )และเวลาวัดมี 12,13,17 - [ ] ในการปรึกษาวรรณกรรม , วัดครั้ง 300 2 เป็นได้รับผลลัพธ์ที่ดีในการวิเคราะห์ซัลเฟอร์ [ 15 ] ในขณะที่กับเครื่องมือที่ใช้ในการศึกษา และการเพิ่มประสิทธิภาพของการวัดเงื่อนไขเวลาที่ลดลงเป็นเพียงพอที่จะได้รับที่ดีผลไม่เพียง แต่ใน ซัลเฟอร์ แต่ในองค์ประกอบทั้งหมดมาวิเคราะห์ตารางที่ 2 แสดงที่เหมาะสมสำหรับแต่ละสภาพของการวัดองค์ประกอบคำสั่งของการวัดองค์ประกอบคือตามจำนวนอะตอมของพวกเขา , วัดแรก หนักที่สุดที่การวิเคราะห์ซัลเฟอร์ , คริสตัล ge 111 ถูกใช้แทนของสัตว์เลี้ยงใช้ในวรรณคดี ปรึกษา [ 14 ] เพราะมันเป็นที่เหมาะสมสำหรับการวิเคราะห์องค์ประกอบนี้มีความละเอียดสูงความสามารถในการเกี่ยวกับการวิเคราะห์ของ PB , ลา สายที่ใช้ เพราะมันเป็นมากกว่าสำคัญ และเป็นที่รู้จักกันว่ามาตรฐาน และตัวอย่างวัดในการศึกษานี้ไม่มีสารหนูในองค์ประกอบของพวกเขา ในกรณีที่ไม่มีข้อมูลเกี่ยวกับตัวอย่างจะพร้อมใช้งานPB จะต้องถูกวิเคราะห์โดยใช้สายปอนด์ เป็นสายของเป็นรบกวน กะด้วยลาสายของตะกั่ว เมื่อใดก็ ตามที่นักวิเคราะห์รู้ขาดเป็น สายวิเคราะห์สำหรับ PB จะลา บรรทัดมันอ่อนไหวมากเพื่อหาร่องรอยเป็นเมตริกซ์ที่มีน้ำมันเช่น 12 % w / w H และ 88 เปอร์เซ็นต์w / C , อนันต์ เท่ากับประมาณ 0.01 เซนติเมตรหนา 0.15 ซม.0.4 ซม. , 0.6 ซม. และ 2 ซม. สำหรับ S , V , Fe , Ni และ เซ คาพลังงาน ตามลำดับ[ 18 ] เป็นองค์ประกอบทั้งหมดที่ใช้ในการศึกษาครั้งนี้ หนักน้อยกว่ากว่าเซ , ความหนา 2 เซนติเมตร ใช้ในการวัดทั้งหมดเพื่อให้มั่นใจว่าความหนา infinitiveในการศึกษาที่ความเข้มข้นต่ำมากขององค์ประกอบที่เป็นวิเคราะห์พบว่าเซลล์ที่ใช้สำหรับการวัดรังสีเอกซ์ไม่สามารถรีไซเคิลเป็นสิ่งที่ไม่ดีได้แตกต่างกันจากการศึกษาอื่น ๆที่มีองค์ประกอบที่ระดับร้อยละ วิเคราะห์และผลลัพธ์ที่ดีที่ได้รับเซลล์เหล่านี้รีไซเคิล นอกจากนี้ตัวอย่าง สามารถวิเคราะห์ครั้ง มิฉะนั้น เพิ่มในสัญญาณความเข้มสูง เช่นในวรรณคดี [ 14,19 ]การวิเคราะห์ด้วยวิธีนี้ รวมเวลาประมาณ 20 นาที ,ที่เกี่ยวข้องเท่านั้นที่จะวัดเวลาโดย wd-xrf เป็นไม่มีการเตรียมตัวต้องเร็วกว่าวิธีอื่น ๆที่ใช้เทคนิค เช่น เทคนิค Atomic absorption spectrometry , ,Atomic absorption spectrometry หรืออุปนัยเตากราไฟต์คู่พลาสมากับ Mass Spectrometry ( ICP-MS ) ,การเตรียมตัวอย่างปกติ ซึ่งในกระบวนการแบบแห้ง ,คือกระบวนการทำให้ [ 2,20,21 ] นอกจากนี้ ในระหว่างการเตรียมตัวสำหรับการวัดโดยเทคนิคเหล่านี้มีความเป็นไปได้การสูญเสียศักยภาพของไอระเหยสารส่วนใหญ่และวาเนเดียมซัลเฟอร์เนื่องจากอุณหภูมิสูงถึงในแบบแห้งกระบวนการ [ 2,21 ] ; ปัญหาที่ไม่ได้เกิดขึ้นในวัดโดย wd-xrf . เพื่อให้มั่นใจว่าไม่มีการเสื่อมสภาพของฟิล์มเอ็กซเรย์
การแปล กรุณารอสักครู่..
