μ-XRD tomography experiments were performed at Beamline L at the Hamburger Synchrotronstrahlungslabor (HASYLAB, Hamburg, Germany).Bending magnet radiation was monochromatized using a Mo/Si double multilayer monochromator (DMM) with energy resolution E/E ≈ 1%. A DMM was preferred over, for example, a Si(111) monochromator, typically used for powder diffraction at synchrotron beamlines, because of its higher transmittance. The reduced 2θ resolution in the XRD data, which is the consequence of the lower energy resolution of the DMM relative to that of a double crystal monochromator (DCM), proved to be sufficient for the measurements performed in this study. After the energy selection, the 30-keV beam was focused on the paint multilayer fragment by means of an elliptical single-bounce capillary to a spot size of 15μm. A MarCCD area detector (2 k × 2 k, 80 μm pixel size) was positioned behind the sample, acquiring two-dimensional diffraction patterns. Additionally, a silicon drift detector, positioned at 90◦ with respect to the incoming beam, allowed the simultaneous registration of fluorescence spectra, thereby combining XRF tomography (element distributions in a virtual cross section) and XRD tomography (crystallographic phase distributions). Figure 2 summarizes the combined μ-XRF/XRD tomography setup as well as the pattern decomposition method explained earlier.
μ - ตรวจเอกซเรย์คอมพิวเตอร์ทดลองที่บีมไลน์ผมที่แฮมเบอร์เกอร์ synchrotronstrahlungslabor ( hasylab , ฮัมบูร์ก , เยอรมนี ) รังสีแม่เหล็กดัด monochromatized โดยใช้โม / ศรี Double Multilayer โมโนโครเมเตอร์ ( DMM ) กับการแก้ปัญหาพลังงาน E / E ≈ 1% เป็น DMM เป็นที่ต้องการมากกว่า เช่น ศรี ( 111 ) โมโนโครเมเตอร์ , โดยปกติจะใช้สำหรับเลนส์แป้งที่ beamlines ซินโครตรอน ,เพราะการส่งผ่านของที่สูงขึ้น 2 θลดความละเอียดในข้อมูลวิเคราะห์ ซึ่งผลของพลังงานลดลง ความละเอียดของตัวเลขที่สัมพันธ์กับที่ของโมโนโครเมเตอร์คริสตัลคู่ ( DCM ) พิสูจน์ให้เพียงพอสำหรับการวัดแสดงในการศึกษานี้ หลังจากการพลังงาน30 keV คานถูกเน้นสีหลายส่วนโดยวิธีการของหลอดเลือดฝอยเด้งเดียวแบบเป็นจุดμขนาด 15 เมตร พื้นที่ marccd ตรวจจับ ( 2 × 2 K K , 80 μ M ขนาดพิกเซล ) เป็นตำแหน่งหลังตัวอย่าง รับสองมิติโดยรูปแบบ นอกจากนี้ ซิลิคอนลอยตรวจจับ , ตําแหน่งที่ 90 ◦เกี่ยวกับคานเข้ามาอนุญาตการลงทะเบียนพร้อมกันของการเปลี่ยนแปลงจึงรวม XRF โทโมกราฟี ( องค์ประกอบการกระจายในส่วนข้ามเสมือน ) และตรวจเอกซเรย์คอมพิวเตอร์ ( การกระจายระยะทาง ) รูปที่ 2 สรุปรวมμ - XRF / ตรวจเอกซเรย์คอมพิวเตอร์ รวมทั้งรูปแบบการติดตั้ง วิธีการอธิบายก่อนหน้านี้
การแปล กรุณารอสักครู่..