XRD patterns were obtained using a

XRD patterns were obtained using a X'Pert Philips diffractometer, with Cu Kα radiation (λ¼1.5418 Å) at a scanning rate of 0.021 s1 (2θscale) intothe 20–801 interval.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ลาย XRD ได้รับใช้ diffractometer เป็น X'Pert Philips, Cu Kα รังสี (λ¼1.5418 Å) อัตราการสแกน 0.021 s 1 (2θscale) โดย 20 – 801 ช่วง

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

รูปแบบ XRD ได้รับใช้ diffractometer X'Pert ฟิลิปส์กับ Cu Kαรังสี (λ¼1.5418 A) ในอัตราที่สแกน 0.021 S? 1 (2θscale) intothe ช่วง 20-801

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

วิเคราะห์รูปแบบ ได้ใช้ x"pert Philips ดิฟแฟรกโทมิเตอร์กับ Cu K αรังสี ( λ¼ 1.5418 Å ) ที่อัตราการสแกน 0.021 S1 ( 2 θขนาด 20 - 801 ) ในช่วง