1. Found defect nick & open random

1. Found defect nick & open random inform K.Ton (Sr.sup.PD) this defects caused using film size larger than boards ,K.Ton agree and will improve.
2. K.piroj (Mgr.PD) inform inner process be can test on end of April.
3. Stock for DF HT9720 M DF store area (cool storage area) 2nd FL = 308 rls,DF store (stand by room) 3rd FL = 68 rls
"

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

1. พบข้อบกพร่องนิค & เปิด สุ่มแจ้ง K.Ton (Sr.sup.PD) นี้ข้อบกพร่องเกิดจากการใช้ฟิล์มขนาดใหญ่กว่ากระดาน K.Ton ตกลง และจะปรับปรุง2. K.piroj (Mgr.PD) แจ้งให้ทราบกระบวนการภายในที่สามารถทดสอบในตอนท้ายของเดือนเมษายน3. หุ้นสำหรับพื้นที่จัดเก็บ DF HT9720 M DF (พื้นที่จัดเก็บเย็น) ชั้น = 308 rls ร้าน DF (ยืนตามห้อง) 3 FL = 68 บทบาท "

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

1. พบข้อบกพร่องกรงขังและเปิดสุ่มแจ้ง K.Ton (Sr.sup.PD) ข้อบกพร่องนี้เกิดจากการใช้ฟิล์มขนาดใหญ่กว่าบอร์ด K.Ton เห็นด้วยและจะปรับปรุง.
2 K.piroj (Mgr.PD) แจ้งกระบวนการภายในจะสามารถทดสอบในปลายเดือนเมษายน.
3 หุ้น DF HT9720 M DF พื้นที่ร้านค้า (พื้นที่จัดเก็บเย็น) ชั้น 2 = 308 RLS เก็บ DF (ยืนตามห้องพัก) ฟลอริด้า 3 = 68 RLS
"

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

1 พบข้อบกพร่องนิค&เปิดสุ่มแจ้ง K . ตัน ( sr.sup PD ) ข้อบกพร่องที่เกิดจากการใช้ฟิล์มขนาด ใหญ่ กว่า บอร์ด k.ton ยอมรับและจะปรับปรุง .
2 k.piroj ( Mgr . PD ) แจ้งกระบวนการภายในจะสามารถทดสอบในสิ้นเดือนเมษายน .
3 หุ้นสำหรับ DF ht9720 M df ร้านบริเวณกระเป๋าเย็น ) 2 FL = 308 RLS DF ร้าน ( อยู่ห้อง ) ชั้น 3 = 68 RLS

"