2.4. Morphological studyStudies on

2.4. Morphological study
Studies on the morphology of the composites were carried out using a scanning electron microscope (SEM).SEM micrographs of the fracture surfaces of the specimens after tensile test were taken using a SEM model WEGA-II TESCAN. The specimen was coated with a thin film (100 A) of gold to avoid electrical charge accumulation during the examination and then analyzed at an accelerating voltage of 25–30 kV [24]. The surface morphology of the films that had been
previously conditioned at 50% RHwas also studied using an atomic force microscope (AFM, Q-Scope 250, Quesant,
USA). Samples were cut into thin pieces and stuck onto the sample stage. A contact cantilever with broadband scan
mode was used to record the micrographs. The resulting data for each samplewas transformed into a 3D image [25].
To make the results comparable, the images were obtained from the center area of each surface.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

2.4 การของศึกษาการศึกษาสัณฐานวิทยาของวัสดุผสมได้ดำเนินการใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนการสแกน (SEM)Micrographs SEM ของพื้นผิวทำให้ของไว้เป็นตัวอย่างหลังจากการทดสอบแรงดึงที่ถ่ายโดยใช้ SEM เป็นรุ่น TESCAN II เวก้า ตัวอย่างถูกเคลือบ ด้วยฟิล์มแบบบาง (100 A) ทองคำเพื่อหลีกเลี่ยงการสะสมประจุไฟฟ้าระหว่างสอบ และวิเคราะห์แล้ว ที่มีแรงดันไฟฟ้าปัจจุบันของ 25 – 30 kV [24] สัณฐานวิทยาที่พื้นผิวของฟิล์มที่ได้ก่อนหน้านี้ ปรับอากาศ 50% RHwas ยังเรียนใช้การกล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม (AFM, Q-ขอบเขต 250, Quesantสหรัฐอเมริกา) ตัวอย่างที่ตัดเป็นชิ้นบาง ๆ และติดอยู่บนเวทีอย่าง Cantilever ที่ติดต่อกับอินเตอร์สแกนโหมดที่ใช้ในการบันทึก micrographs ข้อมูลผลลัพธ์ในแต่ละ samplewas เปลี่ยนเป็นภาพ 3D [25]ให้ผลลัพธ์เทียบเท่า ภาพได้รับจากเซ็นเตอร์ของแต่ละพื้นผิว

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

2.4 การศึกษาทางสัณฐานวิทยา
การศึกษาลักษณะทางสัณฐานวิทยาของคอมโพสิตที่ได้ดำเนินการโดยใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM) .SEM กล้องจุลทรรศน์ของพื้นผิวการแตกหักของชิ้นงานหลังการทดสอบแรงดึงถูกนำมาใช้แบบจำลอง SEM WEGA-II Tescan ตัวอย่างที่ได้รับการเคลือบด้วยฟิล์มบาง (100) ของทองที่จะหลีกเลี่ยงการสะสมประจุไฟฟ้าระหว่างการตรวจสอบและวิเคราะห์แล้วที่แรงดันไฟฟ้าเร่ง 25-30 กิโลโวลต์ [24] สัณฐานพื้นผิวของภาพยนตร์ที่ได้รับการ
ปรับอากาศก่อนหน้านี้ที่ 50% RHwas ยังศึกษาโดยใช้กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม (AFM Q-ขอบเขต 250, Quesant,
USA) ตัวอย่างที่ถูกหั่นเป็นชิ้นบาง ๆ และติดอยู่บนเวทีของกลุ่มตัวอย่าง เท้าแขนติดต่อด้วยการสแกนบรอดแบนด์
โหมดถูกใช้ในการบันทึกกล้องจุลทรรศน์ ข้อมูลที่เกิดสำหรับ samplewas แต่ละกลายเป็นภาพ 3 มิติ [25].
เพื่อให้ผลการเปรียบเทียบภาพที่ได้รับจากพื้นที่ศูนย์กลางของพื้นผิวแต่ละ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

2.4 . การศึกษาลักษณะโครงสร้าง
การศึกษาสัณฐานวิทยาของคอมที่ดำเนินการโดยใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) SEM micrographs ของพื้นผิวของชิ้นงานหลังจากการทดสอบแรงดึงถูกถ่ายโดยใช้ SEM รุ่น wega-ii tescan .ตัวอย่างทดสอบถูกเคลือบด้วยฟิล์มบาง ( 100  ) ทองคำเพื่อหลีกเลี่ยงการสะสมประจุไฟฟ้าในการตรวจและวิเคราะห์ที่เร่งแรงดัน 25 – 30 กิโล [ 24 ] ลักษณะพื้นผิวของฟิล์มที่ได้รับ
ก่อนหน้านี้ปรับอากาศ 50% rhwas ศึกษาโดยใช้กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม ( AFM , q-scope 250 , quesant
, USA )ตัวอย่างที่ถูกหั่นเป็นชิ้นบาง ๆและติดบนตัวอย่างเวที เป็นสะพานที่ติดต่อกับบรอดแบนด์สแกน
โหมดที่ใช้บันทึก micrographs . ผลข้อมูลสำหรับแต่ละ samplewas แปลงเป็นภาพ 3 มิติ [ 25 ] .
ให้ผลเปรียบ ภาพที่ได้จากพื้นที่ศูนย์ของแต่ละพื้นผิว