in a silicon wafer is changed by th

in a silicon wafer is changed by the thin film coating on the wafer surface can be used as a monitoring

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ในซิลิคอนการ เปลี่ยนแผ่นเวเฟอร์ โดยฟิล์มบาง เคลือบบนพื้นผิวแผ่นเวเฟอร์สามารถใช้เป็นการตรวจสอบ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ในเวเฟอร์ซิลิกอนจะเปลี่ยนไปโดยการเคลือบฟิล์มบาง ๆ บนพื้นผิวเวเฟอร์สามารถใช้ในการตรวจสอบ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ในซิลิคอนเวเฟอร์ที่เปลี่ยนไป โดยการเคลือบฟิล์มบางบนพื้นผิวเวเฟอร์สามารถใช้เป็นตรวจสอบ