Principles and capacities[edit]The

Principles and capacities[edit]
The types of signals produced by an SEM include secondary electrons (SE), back-scattered electrons (BSE), characteristic X-rays, light (cathodoluminescence) (CL), specimen current and transmitted electrons. Secondary electron detectors are standard equipment in all SEMs, but it is rare that a single machine would have detectors for all possible signals. The signals result from interactions of the electron beam with atoms at or near the surface of the sample. In the most common or standard detection mode, secondary electron imaging or SEI, the SEM can produce very high-resolution images of a sample surface, revealing details less than 1 nm in size. Due to the very narrow electron beam, SEM micrographs have a large depth of field yielding a characteristic three-dimensional appearance useful for understanding the surface structure of a sample. This is exemplified by the micrograph of pollen shown above. A wide range of magnifications is possible, from about 10 times (about equivalent to that of a powerful hand-lens) to more than 500,000 times, about 250 times the magnification limit of the best light microscopes.

Back-scattered electrons (BSE) are beam electrons that are reflected from the sample by elastic scattering. BSE are often used in analytical SEM along with the spectra made from the characteristic X-rays, because the intensity of the BSE signal is strongly related to the atomic number (Z) of the specimen. BSE images can provide information about the distribution of different elements in the sample. For the same reason, BSE imaging can image colloidal gold immuno-labels of 5 or 10 nm diameter, which would otherwise be difficult or impossible to detect in secondary electron images in biological specimens. Characteristic X-rays are emitted when the electron beam removes an inner shell electron from the sample, causing a higher-energy electron to fill the shell and release energy. These characteristic X-rays are used to identify the composition and measure the abundance of elements in the sample.

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

หลักการและความสามารถ [แก้ไข]
ประเภทของสัญญาณผลิตโดยรวม SEM อิเล็กตรอนทุติยภูมิ (SE) อิเล็กตรอนกลับกระจัดกระจาย (BSE) ลักษณะรังสีเอกซ์แสง (cathodoluminescence) (CL) ตัวอย่างอิเล็กตรอนในปัจจุบันและส่ง เครื่องตรวจจับอิเล็กตรอนรองเป็นอุปกรณ์มาตรฐานใน SEMs ทั้งหมด แต่มันเป็นเรื่องยากที่เครื่องเดียวจะมีเครื่องตรวจจับสัญญาณเป็นไปได้ทั้งหมด สัญญาณเป็นผลมาจากการมีปฏิสัมพันธ์ของลำแสงอิเล็กตรอนกับอะตอมหรือใกล้พื้นผิวของตัวอย่าง ในโหมดการตรวจสอบที่พบมากที่สุดหรือมาตรฐานการถ่ายภาพอิเล็กตรอนรองหรือ SEI ที่ SEM สามารถผลิตมากภาพความละเอียดสูงของพื้นผิวตัวอย่างเปิดเผยรายละเอียดน้อยกว่า 1 นาโนเมตรในขนาด เนื่องจากลำแสงอิเล็กตรอนที่แคบมากที่ไมโคร SEM มีความลึกขนาดใหญ่ของสนามผลผลิตลักษณะลักษณะสามมิติที่มีประโยชน์สำหรับการทำความเข้าใจโครงสร้างพื้นผิวของตัวอย่าง นี่คือสุดขั้วโดย micrograph ของเรณูที่แสดงข้างต้น หลากหลายของกำลังขยายที่เป็นไปได้ประมาณ 10 ครั้ง (ประมาณเทียบเท่ากับของที่มีประสิทธิภาพมือเลนส์) ให้มากขึ้นกว่า 500,000 ครั้งประมาณ 250 ครั้งขีด จำกัด การขยายของที่ดีที่สุดกล้องจุลทรรศน์แสง. อิเล็กตรอน Back-กระจัดกระจาย (BSE) มีความ อิเล็กตรอนลำแสงที่สะท้อนออกมาจากกลุ่มตัวอย่างโดยการกระเจิงยืดหยุ่น BSE มักจะใช้ในการวิเคราะห์ SEM พร้อมกับสเปกตรัมทำจากลักษณะรังสีเอกซ์เพราะความเข้มของสัญญาณเอสอีที่มีความสัมพันธ์อย่างยิ่งกับเลขอะตอม (Z) ของชิ้นงาน ภาพ BSE สามารถให้ข้อมูลเกี่ยวกับการกระจายขององค์ประกอบที่แตกต่างกันในตัวอย่าง ด้วยเหตุผลเดียวกันกับการถ่ายภาพสามารถ BSE ภาพทองคอลลอยด์ภูมิคุ้มกันฉลากของนาโนเมตรเส้นผ่าศูนย์กลาง 5 หรือ 10 ซึ่งอาจจะเป็นเรื่องยากหรือเป็นไปไม่ในการตรวจสอบในภาพอิเล็กตรอนรองในตัวอย่างทางชีวภาพ ลักษณะรังสีเอกซ์จะถูกปล่อยออกมาเมื่อลำแสงอิเล็กตรอนเอาอิเล็กตรอนเปลือกจากตัวอย่างที่ก่อให้เกิดอิเล็กตรอนพลังงานสูงที่จะเติมเปลือกและปล่อยพลังงาน ลักษณะเหล่านี้รังสีเอกซ์ที่ใช้ในการระบุองค์ประกอบและวัดความอุดมสมบูรณ์ขององค์ประกอบในตัวอย่าง

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

หลักการและความสามารถ [ แก้ไข ]
ชนิดของสัญญาณที่ผลิตโดย SEM รวมถึงอิเล็กตรอนทุติยภูมิ ( SE ) กลับกระจายอิเล็กตรอน ( BSE ) ลักษณะอายุ อ่อน ( cathodoluminescence ) ( CL ) ตัวอย่างในปัจจุบันและส่งอิเล็กตรอน เครื่องตรวจจับอิเล็กตรอนทุติยภูมิเป็นอุปกรณ์มาตรฐานทุกแบบ แต่มันเป็นเรื่องยากที่เครื่องเดียวจะตรวจจับสัญญาณที่เป็นไปได้ทั้งหมดสัญญาณผลจากการโต้ตอบของลำแสงอิเล็กตรอนกับอะตอมหรือใกล้พื้นผิวของตัวอย่าง ในที่พบมากที่สุดหรือโหมดการตรวจสอบมาตรฐานภาพอิเล็กตรอนทุติยภูมิหรือ SEI , SEM สามารถผลิตมาก ภาพความละเอียดสูงของพื้นผิวตัวอย่างเปิดเผยรายละเอียดน้อยกว่า 1 nm ในขนาด เนื่องจากคานอิเล็กตรอนที่แคบมากSEM micrographs มีขนาดใหญ่ความลึกของฟิลด์ที่มีลักษณะสามมิติ ลักษณะที่เป็นประโยชน์สำหรับความเข้าใจโครงสร้างผิวของตัวอย่าง นี่คือ exemplified โดยลักษณะของเกสรดอกไม้ที่แสดงข้างต้น ช่วงกว้างของ magnifications เป็นไปได้จากประมาณ 10 เท่า ( เทียบเท่ากับที่ของเลนส์มือมีประสิทธิภาพ ) มากกว่า 500000 ครั้งประมาณ 250 เท่า ขยายขีด จำกัด ของกล้องจุลทรรศน์แสงที่ดีที่สุด

กลับกระจายอิเล็กตรอน ( BSE ) คานอิเล็กตรอนที่สะท้อนให้เห็นจากตัวอย่างโดยยืดหยุ่นการกระเจิง . ส่วนใหญ่มักจะใช้ในการวิเคราะห์ SEM พร้อมกับสเปกตรัมจากรังสีเอกซ์ลักษณะเฉพาะ เนื่องจากความเข้มของสัญญาณ BSE เป็นอย่างยิ่งที่เกี่ยวข้องกับเลขอะตอม ( Z ) ของชิ้นงานส่วนใหญ่ภาพที่สามารถให้ข้อมูลเกี่ยวกับการกระจายขององค์ประกอบต่าง ๆ ในตัวอย่าง สำหรับเหตุผลเดียวกัน ของภาพถ่ายภาพคอลลอยด์อนุภาคมมูโนป้ายทอง 5 หรือ 10 เส้นผ่าศูนย์กลาง nm ซึ่งมิฉะนั้นจะยากหรือเป็นไปไม่ได้ที่จะตรวจสอบในรูปรองอิเล็กตรอนในตัวอย่างทางชีวภาพลักษณะของรังสีเอกซ์จะถูกปล่อยออกมาเมื่อลำแสงอิเล็กตรอนเอาอิเล็กตรอนเชลล์ชั้นในจากตัวอย่างที่ก่อให้เกิดอิเล็กตรอนพลังงานสูงเพื่อเติมเชลล์และปล่อยพลังงาน รังสีเอกซ์ลักษณะเฉพาะเหล่านี้จะใช้เพื่อระบุองค์ประกอบและวัดความอุดมสมบูรณ์ของธาตุในตัวอย่าง