Images of the film surface morpholo

Images of the film surface morphology observed via SEM and AFM were flat and homogeneous with a root mean squared (RMS)roughness of 26 nm, as shown in Fig. 4.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

รูปฟิล์มผิวสัณฐานวิทยาสังเกตผ่าน SEM และ AFM ถูกแบน และเหมือนกับที่รากเฉลี่ยกำลังสอง (RMS) ความหยาบของ 26 nm ดังที่แสดงใน Fig. 4

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ภาพสัณฐานพื้นผิวของฟิล์มที่สังเกตผ่าน SEM และ AFM ถูกแบนและเป็นเนื้อเดียวกันกับรากหมายถึงการยกกำลังสอง (RMS) ความหยาบกร้านจาก 26 นาโนเมตรดังแสดงในรูป 4

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ภาพพื้นผิวของฟิล์มของ SEM และสังเกตทาง AFM ถูกแบนและเป็นเนื้อเดียวกันกับรากหมายถึงยกกำลังสอง ( RMS ) ความหยาบของ 26 นาโนเมตร ดังแสดงในรูปที่ 4