The XPS analysis was conducted usin

The XPS analysis was conducted using a VG Scientific Escalab
MK II spectrometer equipped with a monochromatic Mg K X-ray
source (1253.6 eV). Pass energy was set as 187.85 and 29.35 eV for
survey and high-resolution spectra, respectively. The XPS spectra
were calibrated by taking the graphitic peak as 284.6 eV. The surface
atomic concentrations were calculated from the survey spectra
after correcting the relative peak areas by sensitivity factors.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

วิเคราะห์ XPS ถูกดำเนินการโดยใช้การ Escalab ทางวิทยาศาสตร์ VGสเปกโตรมิเตอร์เอ็มเค II พร้อมเอกซเรย์ K Mg เป็นสีเดียวต้น (1253.6 eV) พลังงานผ่านถูกตั้งค่าเป็น 187.85 และ 29.35 eV สำหรับสำรวจและแรมสเป็คตราความละเอียดสูง ตามลำดับ แรมสเป็คตรา XPSได้รับการปรับเทียบด้วยยอด graphitic เป็น 284.6 eV พื้นผิวมีคำนวณความเข้มข้นอะตอมจากแรมสเป็คตราสำรวจหลังจากแก้ไขพื้นที่สูงสุดสัมพัทธ์โดยปัจจัยความไว

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

การวิเคราะห์ XPS ได้ดำเนินการโดยใช้ VG วิทยาศาสตร์ Escalab
สเปกโตรมิเตอร์ MK II มาพร้อมกับสีเดียว Mg K? เอ็กซ์เรย์แหล่งที่มา (1,253.6 eV)
ผ่านพลังงานได้ตั้งเป็น 187.85 และ 29.35 eV
สำหรับการสำรวจและสเปกตรัมความละเอียดสูงตามลำดับ XPS
สเปกตรัมได้รับการสอบเทียบโดยการจุดสูงสุดgraphitic เป็น 284.6 eV พื้นผิวที่มีความเข้มข้นของอะตอมจะถูกคำนวณจากสเปกตรัมการสำรวจหลังจากการแก้ไขพื้นที่จุดสูงสุดเมื่อเทียบจากปัจจัยความไว