The XRD patterns were collected usi

The XRD patterns were collected using Rigaku D/Max-3C diffractometer with Cu Ka radiation. The SEM images
were obtained using aCarl Zeiss Auriga and the TEM images were taken from JEOL JEM-3010. The sample solutions were dried on carbon-rein forced 300 mesh copper grids prior tothe TEM analysis. The FT-IR spectra were obtained using aThermo ScientificNicolet 6700 spectrometer.

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

รูปแบบ XRD ถูกเก็บรวบรวมโดยใช้ Rigaku D / มาตรการเลี้ยวเบน Max-3C ด้วยการฉายรังสี Cu กา ภาพ SEM
ได้รับใช้ aCarl Zeiss Auriga และภาพ TEM ถูกนำมาจาก JEOL JEM-3010 ตัวอย่างการแก้ปัญหาที่ถูกแห้งคาร์บอนบังเหียนบังคับ 300 กริดทองแดงตาข่ายก่อน tothe TEM วิเคราะห์ สเปกตรัม FT-IR ได้รับใช้ aThermo ScientificNicolet 6700 สเปกโตรมิเตอร์

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การศึกษาเฟสรูปแบบที่ใช้ในการเก็บรวบรวม rigaku D / max-3c ดิฟแฟรกโทมิเตอร์กับทองแดง กะ รังสี โดย SEM ภาพ
ได้ใช้ acarl Zeiss กลุ่มดาวสารถีและแบบภาพถ่ายจากจอล jem-3010 . ตัวอย่างโซลูชันแห้งบนคาร์บอนบังเหียนบังคับ 300 ตาข่ายทองแดงก่อนแบบกริดเพื่อการวิเคราะห์ อินฟราเรดสเปกตรัมที่ได้ใช้ athermo scientificnicolet 6700 สเปกโตรมิเตอร์