In the following, SPICE Gummel-Poon

In the following, SPICE Gummel-Poon (SGP) model
parameter extraction techniques is illustrated. Specifically, the
extraction of current gain and related compact model
parameters is described. The current gain may be obtained
from the Gummel plot and also the output characteristics of the
bipolar transistor. An automated measurement setup that may
be used for the extraction of device parameters is shown in
Figure 2. An Agilent 4156C-based or equivalent system is
chosen as it has the capability to measure dc characteristics of
semiconductor devices. As device characteristics evaluation is the prime objective, the controller is commonly used to collect
the measured data and transmit the data to the host computer
for post-processing. In order to extract the model parameters,
several measurements are performed at different biasing
conditions at room temperature.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ในรูปแบบเครื่องเทศ Gummel พูน (SGP) ต่อไปนี้มีแสดงเทคนิคการแยกพารามิเตอร์ โดยเฉพาะ การแยกกำไรปัจจุบันและแบบจำลองขนาดเล็กที่เกี่ยวข้องอธิบายพารามิเตอร์ ได้กำไรปัจจุบันจากพล็อต Gummel และลักษณะผลผลิตของการไฟที่ไบโพลาร์ทรานซิสเตอร์ การตั้งค่าการวัดอัตโนมัติที่อาจใช้สำหรับแยกพารามิเตอร์อุปกรณ์จะแสดงในรูปที่ 2 การ Agilent ตาม 4156C หรือเทียบเท่าระบบเลือกมีความสามารถในการวัดลักษณะ dc ของอุปกรณ์สารกึ่งตัวนำ เป็นอุปกรณ์ลักษณะประเมิน เฉพาะวัตถุประสงค์ การควบคุมมักใช้เพื่อรวบรวมข้อมูลวัด และส่งข้อมูลไปยังคอมพิวเตอร์เครื่องโฮสต์สำหรับการประมวลผลหลัง เพื่อที่จะแยกพารามิเตอร์รูปแบบดำเนินการวัดหลายที่ biasing แตกต่างกันสภาวะที่อุณหภูมิห้อง

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ในต่อไปนี้ SPICE Gummel พูน (SGP)
รูปแบบเทคนิคการสกัดพารามิเตอร์ที่แสดง โดยเฉพาะการสกัดของกำไรในปัจจุบันและรูปแบบที่มีขนาดกะทัดรัดที่เกี่ยวข้องพารามิเตอร์อธิบายไว้ กำไรในปัจจุบันอาจจะได้รับจากพล็อต Gummel และลักษณะการส่งออกของทรานซิสเตอร์สองขั้ว การติดตั้งการวัดอัตโนมัติที่อาจนำมาใช้ในการสกัดของพารามิเตอร์อุปกรณ์ที่จะแสดงในรูปที่2. Agilent 4156C หรือเทียบเท่าระบบจะได้รับการแต่งตั้งตามที่มีความสามารถในการวัดลักษณะdc ของอุปกรณ์เซมิคอนดักเตอร์ ขณะที่การประเมินผลลักษณะอุปกรณ์เป็นวัตถุประสงค์ที่สำคัญตัวควบคุมเป็นที่นิยมใช้ในการเก็บรวบรวมข้อมูลที่วัดและส่งข้อมูลไปยังคอมพิวเตอร์แม่ข่ายสำหรับการประมวลผลการโพสต์ เพื่อดึงพารามิเตอร์แบบที่หลายวัดที่จะดำเนินการให้น้ำหนักที่แตกต่างกันสภาพที่อุณหภูมิห้อง

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ในต่อไปนี้ เครื่องเทศ gummel พูน ( SGP ) เทคนิคการสกัดพารามิเตอร์โมเดล
เป็นภาพประกอบ โดย
การสกัดได้รับในปัจจุบันและที่เกี่ยวข้องรูปแบบ
ขนาดกะทัดรัดและพารามิเตอร์ที่อธิบาย ผลที่ได้รับในปัจจุบัน อาจจะได้มาจาก gummel
พล็อตและยังส่งออกคุณลักษณะของทรานซิสเตอร์
ไบโพลาร์ โดยอัตโนมัติการตั้งค่าการวัดที่อาจ
สามารถใช้สำหรับการสกัดค่าอุปกรณ์จะแสดงใน
รูปที่ 2 การใช้ระบบ 4156c เลนต์ หรือเทียบเท่าเป็น
เลือกเป็นมีความสามารถในการวัดลักษณะ DC ของ
อุปกรณ์เซมิคอนดักเตอร์ การประเมินลักษณะอุปกรณ์เป็นวัตถุประสงค์หลักที่ควบคุมโดยทั่วไปที่ใช้ในการรวบรวมข้อมูลวัด
และส่งข้อมูลไปยังคอมพิวเตอร์ที่เป็นโฮสต์
สำหรับการโพสต์เพื่อแยกรูปแบบของการวัดจะแสดงที่แตกต่างกันหลาย

ขยายเงื่อนไขที่อุณหภูมิของห้อง