Transmission electron microscopy(TE

Transmission electron microscopy
(TEM, JEOL, JEM-2010) was employed to investigate the
morphology of as-preparedGO, using an accelerating voltage
of 200 kV. XPS measurement of the GO was performed on
a Perkin-Elmer PHI-5702 multi-functional X-ray photoelec-tron spectroscope (Physical Electronics, USA), using Al-K

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ส่งอิเล็กตรอน microscopy
(ยการ JEOL, JEM 2010) ถูกว่าจ้างเพื่อตรวจสอบการ
รูปร่างเป็น-preparedGO แรงดันไฟฟ้าปัจจุบันใช้
200 kV XPS วัดไปทำตาม
เอลเมอเพอร์พี-5702 อเนกประสงค์เอ็กซ์เรย์ photoelec ตำบล spectroscope (กายภาพอิเล็กทรอนิกส์ สหรัฐอเมริกา), ใช้อัล-K