where Dm is the difference between

where Dm is the difference between the mass after and before the
spray operation, L the length, l the width and qm is the density.
The structural studies of the prepared Sn–ZnO thin films were carried
out by means of X-ray diffractometer employing Bruker D8 ADVANCE with CuKa radiation having the wavelength of 1.5418 ÅA 0
.
XRD patterns were recorded in the 2h ranging from 25s to 75s.
The experimental peak positions were compared with the standard
JCPDS files (PDF # 891397). The elemental analysis of the films was
performed by an energy dispersive X-ray spectrometer (EDX) JEOL
JSM-5600.

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ที่ Dm คือความแตกต่างระหว่างมวลหลังและก่อนที่จะ
ดำเนินการสเปรย์ความยาว L, L ความกว้างและความหนาแน่นของตารางเมตรเป็น.
การศึกษาโครงสร้างของเตรียม SN-ZnO ฟิล์มบางได้ดำเนิน
การโดยวิธีการของมาตรการเลี้ยวเบนรังสีเอกจ้าง Bruker D8 ADVANCE ด้วยการฉายรังสี Cuka มีความยาวคลื่นของ 1.5418 AA 0
.
'ตะกอนที่ถูกบันทึกไว้ใน 2H ตั้งแต่ 25s เพื่อ 75s.
ตำแหน่งสูงสุดทดลองเมื่อเทียบกับมาตรฐาน
ไฟล์ JCPDS (PDF # 891397) การวิเคราะห์ธาตุของภาพยนตร์ที่ได้รับการ
ดำเนินการโดยกระจายพลังงานสเปกโตรมิเตอร์ X-ray (EDX) JEOL
JSM-5600

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ที่ DM คือความแตกต่างระหว่างมวลก่อนและหลังพ่นงาน
L ความยาว , ความกว้างและ QM มีความหนาแน่น .
การศึกษาโครงสร้างของฟิล์มบางซิงค์ออกไซด์ที่เตรียม SN ซึ่งถูกหาม
ออกโดยวิธีการของเอ็กซ์เรย์ดิฟแฟรกโทมิเตอร์พนักงานบรุคเกอร์ d8 ล่วงหน้ากับ cuka รังสีที่มีความยาวคลื่นของ 1.5418 •เป็น 0
.
XRD ลวดลายที่ถูกบันทึกไว้ใน 2H ตั้งแต่ 25s เพื่อ 75s .
ตำแหน่งยอดทดลองเปรียบเทียบกับ jcpds มาตรฐาน
ไฟล์ ( PDF # 891397 ) การวิเคราะห์ธาตุของฟิล์ม
ขับร้องโดยพลังงานกระจายตัวสเปกโตรมิเตอร์รังสีเอ็กซ์ ( การวัด ) จอล
jsm-5600 .