The XRD patterns of reactant SiO2an

The XRD patterns of reactant SiO2and synthesised SiC nanoparticles are shown in Fig. 3a. A typical XRD spectrum was
observed for SiO2 with maximum intensity of (011) peak

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

รูปแบบ XRD ของตัวทำปฏิกิริยา SiO2and synthesised SiC แสดงเก็บกัก Fig. 3a สเปกตรัม XRD ทั่วไปได้สังเกตสำหรับ SiO2 ด้วยความเข้มสูงสุดของพีค (011)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

รูปแบบ XRD ของ SiO2and ผิดใจสังเคราะห์อนุภาคนาโน SiC จะแสดงในรูป 3a สเปกตรัม XRD โดยทั่วไปได้รับการ
ตั้งข้อสังเกตสำหรับ SiO2 มีความรุนแรงสูงสุด (011) สูงสุด

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การศึกษาเฟสของสารสังเคราะห์รูปแบบ sio2and SIC อนุภาคที่แสดงในรูปที่ 3A สเปกตรัมรังสีเอ็กซ์โดยทั่วไปคือ
) SiO2 ที่มีความเข้มสูงสุด ( 011 ) สูงสุด