the XRD patterns of the 0.1 % Ag-Ti

the XRD patterns of the 0.1 % Ag-TiO2 thin films showed the prominent peaks as 2θ = 25.2°,

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

รูปแบบ XRD ของฟิล์มบาง Ag TiO2 การ 0.1% แสดงให้เห็นยอดเขาที่โดดเด่นเป็น 2θ = 25.2°

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

รูปแบบ XRD ของ 0.1% Ag-TiO2 ฟิล์มบางที่แสดงให้เห็นยอดเขาที่โดดเด่นเป็น2θ = 25.2 °,

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การวิเคราะห์รูปแบบของ 0.1% ag-tio2 ฟิล์มบางมียอดเขาที่โดดเด่นเป็น 2 θ = 25.2 องศา
,