A scanning electron microscope (SEM

A scanning electron microscope (SEM) is a type of electron microscope that produces images of a sample by scanning it with a focused beam of electrons. The electrons interact with atoms in the sample, producing various signals that can be detected and that contain information about the sample's surface topography and composition.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนเป็นการสแกน (SEM) เป็นชนิดของกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนที่สร้างภาพของตัวอย่าง โดยการสแกนด้วยแสงโฟกัสของอิเล็กตรอน อิเล็กตรอนโต้ตอบกับอะตอมในตัวอย่าง การผลิตสัญญาณต่าง ๆ ที่สามารถตรวจพบ และที่ประกอบด้วยข้อมูลเกี่ยวกับตัวอย่างพื้นผิวภูมิประเทศและองค์ประกอบ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM) เป็นชนิดของกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนที่ผลิตภาพตัวอย่างโดยการสแกนด้วยลำแสงเน้นอิเล็กตรอน อิเล็กตรอนโต้ตอบกับอะตอมในตัวอย่างการผลิตสัญญาณต่างๆที่สามารถตรวจพบและที่มีข้อมูลเกี่ยวกับพื้นผิวภูมิประเทศตัวอย่างและองค์ประกอบ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

เป็นกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) เป็นชนิดของกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนที่ผลิตภาพตัวอย่างโดยการสแกนกับโฟกัสลำแสงอิเล็กตรอน อิเล็กตรอนโต้ตอบกับอะตอมที่ใช้ในการผลิตสัญญาณต่าง ๆ ที่สามารถตรวจพบ และมีข้อมูลเกี่ยวกับตัวอย่างพื้นผิวภูมิประเทศและองค์ประกอบที่