INTRODUCTIONRecently the concept of

INTRODUCTION
Recently the concept of scattering-type scanning near-field
optic microscopy (s-SNOM) has been introduced and THz
microscopy with nanometre resolution has been reported [1],
[2]. In the case of s-SNOM the image formation is based on
the interaction between a very sharp probe tip and the object
whereby the resolution is no longer determined by the
wavelength but the sharpness of the tip. The method is based
on measuring the scattered near-field very close to a sample or
converting the near-field evanescent wave to a propagation
wave which can be detected in far field. The amplitude and
phase of this near field are highly dependent on the local
structure and therefore contain very high resolution spatial
information. However, extracting this information from the
scattered fields requires near-field probes capable of coupling
to the local field at a tiny point. The higher the resolution, the
more sophisticated and expensive the probes are [3].

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

แนะนำ
เมื่อเร็ว ๆ นี้แนวคิดของ scattering ชนิดแกนใกล้เขต
ใย microscopy (s-SNOM) ได้รับการแนะนำ และ THz
microscopy nanometre ความละเอียดแล้วรายงาน [1] ,
[2] ในกรณีที่ s SNOM ก่อรูปขึ้นอยู่กับ
การโต้ตอบระหว่างปลายโพรบที่คมมากและวัตถุ
โดยไม่มีกำหนดความละเอียดโดย
ความยาวคลื่นแต่ความคมชัดของคำแนะนำ วิธีจะขึ้น
ในการวัดการกระจายใกล้เขตใกล้ตัวอย่าง หรือ
แปลงคลื่น evanescent ใกล้เขตการแพร่กระจาย
คลื่นซึ่งสามารถตรวจพบในฟาร์ฟิลด์ คลื่น และ
ของฟิลด์นี้ใกล้จะสูงขึ้นอยู่กับท้องถิ่น
จัดโครงสร้าง และดังนั้นจึง ประกอบด้วยความละเอียดสูงมากปริภูมิ
ข้อมูล อย่างไรก็ตาม แยกข้อมูลจาก
ฟิลด์กระจายต้องใกล้ฟิลด์คลิปปากตะเข้สามารถคลัป
ฟิลด์เฉพาะจุดเล็ก ๆ ความละเอียดสูง การ
คลิปปากตะเข้มี [3] มีความซับซ้อน และราคาแพงมาก

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

เมื่อเร็ว ๆนี้แนวคิดของการแนะนำ

ใกล้ชนิดสแกนกล้องจุลทรรศน์แสง ( s-snom ) ได้รับการแนะนำและ thz
จุลทรรศน์ด้วยทิพยอำนาจละเอียดได้รับรายงาน [ 1 ] ,
[ 2 ] ในกรณีของการเกิด s-snom ภาพขึ้นอยู่กับ
ปฏิสัมพันธ์ระหว่างปลายโพรบแหลมมากและวัตถุ
โดยละเอียด ไม่มีกำหนดโดย
ความยาวคลื่นแต่ความคมของปลาย เป็นวิธีการที่ใช้ในการวัดการกระจาย
ใกล้ใกล้มากตัวอย่างหรือ
แปลงใกล้หายไปอย่างรวดเร็วคลื่นกับการแพร่กระจายคลื่น
ซึ่งสามารถตรวจพบได้ในเขตห่างไกล ทั้งขนาดและเฟสของ
ใกล้เขตนี้มีสูง ขึ้นอยู่กับโครงสร้างและท้องถิ่น
จึงมีความละเอียดสูงมากข้อมูลเชิงพื้นที่

อย่างไรก็ตามการสกัดข้อมูลจากเขตข้อมูลที่ต้องการและสามารถกระจาย

ใกล้ของการเชื่อมต่อกับเขตท้องถิ่นที่เป็นจุดเล็ก ๆ สูงความละเอียดซับซ้อนมากขึ้นและมีราคาแพง
ฟิวส์เป็น [ 3 ]