Depth profiling with XPS confirmed

Depth profiling with XPS confirmed that the chemical composition of the YSZ substrates remained unchanged after thermal annealing.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ลึกสร้างโพรไฟล์กับ XPS ยืนยันว่า องค์ประกอบทางเคมีของพื้นผิว YSZ ยังคงไม่เปลี่ยนแปลงหลังจากการอบเหนียวร้อน

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

โปรไฟล์เชิงลึกกับ XPS ยืนยันว่าองค์ประกอบทางเคมีของพื้นผิว YSZ ยังคงไม่เปลี่ยนแปลงหลังจากการอบความร้อน

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ความลึกโปรไฟล์กับ XPS ยืนยันว่าองค์ประกอบทางเคมีของพื้นผิว ซึ่งยังคงไม่เปลี่ยนแปลงหลังจากที่อบด้วยความร้อน .