High resolution scanning electron m

High resolution scanning electron microscopy was used to
investigate the microstructure of the M-FRC samples. All of the
samples studied using Hi-Res SEM analyses were cryogenically
fractured.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ใช้ความละเอียดสูงสแกน microscopy อิเล็กตรอนตรวจสอบต่อโครงสร้างจุลภาคอย่าง M-FRC ทั้งหมดนี้ตัวอย่างที่ศึกษาใช้วิเคราะห์ Hi-Res SEM ดี cryogenicallyfractured

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ความละเอียดสูงสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนถูกใช้ในการ
ตรวจสอบโครงสร้างจุลภาคของตัวอย่าง M-FRC ทั้งหมดของ
กลุ่มตัวอย่างที่ศึกษาโดยใช้ Hi-Res SEM วิเคราะห์เป็น cryogenically
ร้าว