Fig. 2 shows the XRD patterns of th

Fig. 2 shows the XRD patterns of the as-prepared ZnO-A samples. All the diffraction peaks of the prepared ZnO-A products can be well indexed to the standard card of hexagonal wurtzite ZnO structures (JCPDS No. 01-1136-1) as shown in Fig. 2. No other characteristic diffraction peaks or impurities were detected, which implies that pure ZnO was formed.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

Fig. 2 แสดงรูปแบบ XRD ตัวอย่าง ZnO A ที่เตรียมเป็น แห่งการเลี้ยวเบนของผลิตภัณฑ์ ZnO A เตรียมไว้สามารถถูกดีทำดัชนีบัตรมาตรฐานโครงสร้างของ ZnO wurtzite หกเหลี่ยม (JCPDS หมายเลข 01-1136-1) ดังที่แสดงใน Fig. 2 ยอดลักษณะการเลี้ยวเบนหรือสิ่งสกปรกอื่นไม่พบ ซึ่งหมายความว่า ZnO บริสุทธิ์ก่อการ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

มะเดื่อ 2 แสดงให้เห็นถึงรูปแบบ XRD ของตามที่จัดทำตัวอย่าง ZnO- ทุกยอดการเลี้ยวเบนของเตรียมผลิตภัณฑ์ ZnO-สามารถจัดทำดัชนีดีกับการ์ดมาตรฐานของหกเหลี่ยม wurtzite โครงสร้างซิงค์ออกไซด์ (JCPDS ที่ 01-1136-1) ดังแสดงในรูป 2. ไม่มียอดการเลี้ยวเบนลักษณะอื่น ๆ หรือสิ่งสกปรกที่ถูกตรวจพบซึ่งหมายความว่าซิงค์ออกไซด์บริสุทธิ์ที่ถูกสร้างขึ้น

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

รูปที่ 2 แสดงให้เห็นรูปแบบของรังสีเอ็กซ์เป็นเตรียม zno-a ตัวอย่าง ทั้งหมดจากยอดเขาของเตรียม zno-a ผลิตภัณฑ์ได้จัดทำดัชนีกับการ์ดมาตรฐานของซิงค์ออกไซด์โครงสร้าง wurtzite หกเหลี่ยม ( jcpds ไม่ 01-1136-1 ) ดังแสดงในรูปที่ 2 ไม่มีลักษณะการเลี้ยวเบนยอดหรือสิ่งสกปรกที่ถูกตรวจพบ ซึ่งแสดงถึงว่า ZnO บริสุทธิ์อีกครั้ง