Fig. 5: Frit variation of the paste

Fig. 5: Frit variation of the paste with the frit content of point X and Y in Fig. 4. (a) (c) show EDX Mapping images of a bus bar with an
optimum frit content (point X). (a) shows the SEM image whereas (b) and (c) show the EDX image of silver and oxide, respectively. An
optimum frit content at point X results in a stable glass layer. The glass layer contacts the silicon homogeneously. (d) (f) show the EDX
Mapping image of a bus bar with frit content at point Y. (d) shows the SEM image whereas (e) and (f) show the EDX image of silver and oxide
comparable to (a) (c). The higher frit content of Frit B results in an inhomogeneous glass layer destabilizing the contact between bus bar and
silicon. This results in smaller peel-off forces shown in Fig. 4.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

Fig. 5: Frit รูปแบบของการวางเนื้อหา frit จุด X และ Y ใน Fig. 4 (ก) (ค) แสดงเรื่องแม็ปรูปของบัสบาร์กับการ
frit เหมาะสมเนื้อหา (จุด X) (ก) แสดงการ SEM ภาพขณะ (ข) และ (ค) แสดงเรื่องรูปของซิลเวอร์ออกไซด์ ตามลำดับ การ
เนื้อหาเหมาะสม frit ที่จุด X ผลชั้นมั่นคงแก้ว ชั้นกระจกติดต่อซิลิคอน homogeneously (d) (f) แสดงเรื่อง
ภาพการแม็ปของบัสบาร์กับเนื้อหา frit ที่จุด Y. (d) แสดงภาพ SEM ในขณะ (e) และ (f) แสดงภาพเรื่องของเงินและออกไซด์
เทียบได้กับ (c) (a) เนื้อหา frit สูงของ Frit B ผลลัพธ์ในชั้นการใช้งานแก้ว destabilizing ระหว่างบัสบาร์ และ
ซิลิคอน นี้ผลเล็กเปลือกปิดกองทัพแสดงใน Fig. 4

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

มะเดื่อ 5: การเปลี่ยนแปลงของ Frit วางที่มีเนื้อหาแหยงของ X และ Y จุดในรูปที่ 4 (ก) (ค) แสดงภาพแผนที่ EDX ของบัสบาร์ที่มี
เนื้อหาแหยงที่ดีที่สุด (จุด X) (ก) แสดงให้เห็นภาพในขณะที่ SEM (ข) และ (ค) แสดงภาพ EDX เงินและออกไซด์ตามลำดับ
แหยงเนื้อหาที่ดีที่สุดที่ผลจุด X ในชั้นแก้วที่มีความเสถียร ชั้นกระจกรายชื่อซิลิกอนเป็นเนื้อเดียวกัน (ง) (ฉ) แสดง EDX
ภาพแผนที่ของบัสบาร์ที่มีเนื้อหาที่แหยงวายจุด (ง) แสดงให้เห็นภาพในขณะที่ SEM (จ) และ (ฉ) การแสดงภาพ EDX เงินและออกไซด์
เทียบได้กับ (ก) (c) แหยงเนื้อหาที่สูงขึ้นของผล Frit B ในชั้นแก้ว inhomogeneous ติดกับการติดต่อระหว่างบัสบาร์และ
ซิลิกอน ซึ่งส่งผลให้กองกำลังขนาดเล็กเปลือกออกแสดงในรูปที่ 4

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ภาพที่ 5 : ฟริตการวางกับเนื้อหาแหยงจุด x และ y ในรูปที่ 4 ( ) ( C ) แสดงแผนที่ภาพการวัดของบัสบาร์ด้วย
เนื้อหาฟริตที่เหมาะสม ( จุด X ) ( ก ) แสดงภาพ SEM และ ( b ) และ ( c ) แสดงภาพและการวัดของซิลเวอร์ออกไซด์ ตามลำดับ เป็นเนื้อหาที่เหมาะสมที่จุด X
frit ผลในชั้นแก้วคงที่ แก้วชั้นติดต่อซิลิคอนละเอียดเป็นเนื้อเดียวกัน( D ) ( F ) แสดงการวัด
แผนที่ภาพของบัสบาร์กับฟริตเนื้อหาที่จุด Y ( d ) แสดงภาพ SEM และ ( e ) และ ( F ) แสดงภาพและการวัดของซิลเวอร์ออกไซด์
เปรียบ ( ) ( C ) ยิ่งแหยงเนื้อหา frit B ในแบบของชั้นกระจก inhomogeneous ติดต่อระหว่างบัสบาร์และ
ซิลิคอน ผลลัพธ์ที่ได้ในขนาดเล็กปอกเปลือกออกกําลังแสดงในรูปที่ 4