6.1. Observing ripple e®ectsA furth

6.1. Observing ripple e®ects
A further analysis performed in this study was related to identify possible ripplee
®ects caused by changes that propagate between unrelated modules. As explained,
if a change targets the HW Servlets, it would be expected to have changes localized
to the view layer. Any other particular change that is propagated to other concerns
(other layers) is considered a negative change

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

6.1 การสังเกต ripple อี ® ectsการวิเคราะห์การดำเนินเกี่ยวการศึกษานี้ระบุ ripplee เป็นไปได้® ects ที่เกิดจากการเปลี่ยนแปลงที่เผยแพร่ระหว่างโมดูลที่ไม่เกี่ยวข้องกัน ตามที่อธิบายไว้ถ้ามีการเปลี่ยนแปลงเป้าหมาย HW Servlets มันจะต้องมีแปลงเป็นภาษาท้องถิ่นชั้นดู อื่น ๆ โดยเฉพาะการเปลี่ยนแปลงใด ๆ ที่จริงความกังวลอื่น ๆ(ชั้นอื่น) ถือว่าเป็นการเปลี่ยนแปลงที่เป็นค่าลบ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

6.1 สังเกตระลอกe®ects
วิเคราะห์ต่อไปดำเนินการในการศึกษาครั้งนี้ได้รับการที่เกี่ยวข้องกับการระบุ ripplee ไปได้
®ectsที่เกิดจากการเปลี่ยนแปลงที่เผยแพร่ระหว่างโมดูลที่ไม่เกี่ยวข้อง ตามที่อธิบาย
ในกรณีที่มีการเปลี่ยนแปลงเป้าหมาย HW Servlets ก็จะได้รับการคาดว่าจะมีการเปลี่ยนแปลงที่มีการแปล
ไปยังชั้นมุมมอง การเปลี่ยนแปลงใด ๆ โดยเฉพาะอย่างยิ่งคนอื่น ๆ ที่มีการแพร่กระจายไปยังกังวลอื่น ๆ
(ชั้นอื่น ๆ ) มีการพิจารณาการเปลี่ยนแปลงในเชิงลบ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

6.1 . สังเกตตัว E ® ects
เพิ่มเติมการวิเคราะห์การปฏิบัติในการศึกษาที่เกี่ยวข้องกับระบุเป็นไปได้ ripplee
®ผลที่เกิดจากการเปลี่ยนแปลงที่เผยแพร่ระหว่างโมดูลที่เกี่ยวข้อง ตามที่อธิบาย
ถ้าเปลี่ยน HW สามารถเป้าหมาย คาดว่าจะต้องมีการเปลี่ยนแปลงเฉพาะที่
ไปดูชั้น อื่น ๆโดยเฉพาะการเปลี่ยนแปลงที่ทำให้ความกังวล
อื่น ๆ( ชั้นอื่น ๆ ) จะถือว่าการเปลี่ยนแปลงเชิงลบ