Lastly, XPS scans for impurities we

Lastly, XPS scans for impurities were performed on the annealed surfaces. Impurities including silicon, alkali metals, and transition metals might be segregated near grain boundaries or form the layer at the surface to deteriorate the oxygen reduction kinetics.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

สุดท้ายนี้ สแกน XPS สำหรับสิ่งสกปรกถูกทำบนพื้นผิว annealed สิ่งสกปรกรวม ถึงซิลิกอน โลหะแอลคาไล เปลี่ยนโลหะอาจแยกใกล้ขอบเม็ด หรือแบบชั้นที่ผิวเสียจลนพลศาสตร์การลดออกซิเจน

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

สุดท้ายสแกน XPS สำหรับสิ่งสกปรกได้ดำเนินการบนพื้นผิวอบ สิ่งสกปรกรวมทั้งซิลิกอน, โลหะอัลคาไลและโลหะการเปลี่ยนแปลงอาจจะมีการแยกที่อยู่ใกล้ข้าวเขตแดนหรือรูปแบบที่ชั้นที่พื้นผิวที่เสื่อมลงจลนศาสตร์ลดออกซิเจน

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

สุดท้าย , XPS สแกนปลอมถูกแสดงบนอบพื้นผิว สิ่งสกปรกรวมทั้งซิลิคอน , โลหะอัลคาไล , และการเปลี่ยนโลหะอาจจะแยก ใกล้เขตแดนเม็ดหรือรูปแบบเลเยอร์ที่พื้นผิวลดออกซิเจนเคมีไฟฟ้าเสื่อมสภาพ