Fig. 3 shows a typical design cycle

Fig. 3 shows a typical design cycle for a new testing system developed under an asynchronous fashion.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

Fig. 3 แสดงวงจรการออกแบบทั่วไปสำหรับระบบการทดสอบใหม่ที่พัฒนาขึ้นภายใต้การแฟชั่นแบบอะซิงโครนัส

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

รูป 3 แสดงให้เห็นถึงการออกแบบวงจรปกติสำหรับการทดสอบระบบใหม่ที่พัฒนาภายใต้แบบไม่ตรงกัน

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

รูปที่ 3 แสดงให้เห็นถึงการออกแบบวงจรโดยทั่วไปสำหรับการทดสอบระบบที่พัฒนาขึ้นภายใต้แฟชั่นใหม่ไม่ตรงกัน