The diffusion profilesof the layers

The diffusion profiles
of the layers were examined using Auger depth analysis. The
specific contact resistances were determined by transmission line
model measurement.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

โพรไฟล์การแพร่ของชั้นถูกตรวจสอบโดยใช้ชอนลึกวิเคราะห์ ที่ต้านทานเฉพาะที่ติดต่อที่กำหนด โดยสายแบบประเมินการ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

โปรไฟล์การแพร่กระจายของชั้นได้รับการตรวจสอบโดยใช้การวิเคราะห์เชิงลึกสว่าน ต้านทานติดต่อเฉพาะได้รับการพิจารณาโดยสายส่งวัดรูปแบบ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

รูปแบบการแพร่กระจายของชั้น
ทดสอบโดยใช้การวิเคราะห์ความลึกสว่าน .
ความต้านทานติดต่อเฉพาะถูกกำหนดโดยรูปแบบการวัด
สายส่ง .