Scanning electron microscopy (SEM)

Scanning electron microscopy (SEM) of the film samples was performed using a Hitachi 570 SEM (FESEM Hitachi S4160, Japan) in the School of Metallurgy and Materials Engineering University of Tehran, Tehran Iran. The film samples (10 mm  10 mm  0.1 mm) were immersed in liquid nitrogen and cryo-fractured by hand. SEM pictures with 1500 magnification were taken with an accelerating voltage of 20 kV.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

สแกน (SEM) microscopy อิเล็กตรอนตัวอย่างฟิล์มที่ดำเนินการใช้ SEM การ 570 ฮิตาชิ (S4160 FESEM ฮิตาชิ ญี่ปุ่น) โรงเรียนสอนโลหะวิทยาและวัสดุวิศวกรรมมหาวิทยาลัยของเตหะราน อิหร่านเตหะราน ตัวอย่างภาพยนตร์ (10 มม. 10 มม. 0.1 mm) ถูกแช่อยู่ ในไนโตรเจนเหลว และ cryo fractured ด้วยมือ ภาพ SEM กับขยาย 1500 ถ่ายในขณะแรงดันไฟฟ้าปัจจุบัน 20 kV

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนสแกน (SEM) ของภาพยนตร์ตัวอย่างได้รับการดำเนินการโดยใช้ฮิตาชิ 570 SEM (FESEM ฮิตาชิ S4160, ญี่ปุ่น) ในโรงเรียนของโลหะและวัสดุวิศวกรรมมหาวิทยาลัยเตหะรานเตหะรานประเทศอิหร่าน ตัวอย่างภาพยนตร์ (10 มม 10 มม? 0.1 มิลลิเมตร) ถูกแช่อยู่ในไนโตรเจนเหลวและฝั่ง-หักด้วยมือ ภาพ SEM กับ 1500? การขยายที่ถูกถ่ายด้วยแรงดันไฟฟ้าเร่ง 20 กิโลโวลต์

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) ของภาพยนตร์ตัวอย่างการใช้ Hitachi 570 SEM ( fesem Hitachi s4160 , ญี่ปุ่น ) ในโรงเรียนของโลหะและวัสดุ คณะวิศวกรรมศาสตร์ มหาวิทยาลัยเตหะราน อิหร่านเตหะราน ภาพยนตร์ตัวอย่าง ( 10 มม. 10 มม.   0.1 มิลลิเมตร ) ถูกแช่อยู่ในไนโตรเจนเหลวแช่แข็ง และหักด้วยมือจากภาพกับ 1500  ขยายถ่ายกับเร่งแรงดัน 20 KV .