The XRD pattern of nanoparticles wa

The XRD pattern of nanoparticles was recorded on a Bruker AXS D-8 powder X-ray diffractometer (Shimadzu, Japan) operated at a voltage of 40 kV and current of 15 mA using CuKα radiation (λ=1.5406 A°).

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

บันทึกรูปแบบ XRD ของเก็บกักบนเครื่อง Bruker AXS D-8 ผง X-ray diffractometer (Shimadzu ญี่ปุ่น) งานที่แรงดันไฟฟ้า 40 kV และกระแส 15 mA ใช้รังสี CuKα (λ = 1.5406 A °)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

รูปแบบ XRD ของอนุภาคนาโนที่ได้รับการบันทึกใน Bruker AXS D-8 ผง X-ray diffractometer (Shimadzu, ญี่ปุ่น) ทำงานที่แรงดันไฟฟ้า 40 กิโลโวลต์และปัจจุบันของ 15 mA ใช้รังสีCuKα (λ = 1.5406 องศา)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การศึกษาเฟสของอนุภาคที่ถูกบันทึกไว้ในรูปแบบขวานผัดแป้งเอ็กซ์เรย์ดิฟแฟรกโทมิเตอร์ BRUKER ( Shimadzu ประเทศญี่ปุ่น ) ดำเนินการแรงดัน 40 กิโล และปัจจุบัน 15 มาใช้ cuk αรังสี ( λ = 1.5406 เป็นองศา )