We report here the electrical and t

We report here the electrical and thermal stability of the n-type
and p-type Cu-based contacts after subjecting them to periodic
heat treatment and high current stress process. Furthermore, the
reliability of III–V concentration solar cells adopting these low contacts
is demonstrated to show their practicability.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

เรานี่รายงานเสถียรภาพไฟฟ้า และความร้อนชนิด nชนิด p ใช้ Cu ติดต่อหลังจากมีชัยเป็นครั้งคราวรักษาความร้อนและกระบวนการความเครียดปัจจุบันสูง นอกจากนี้ การความน่าเชื่อถือของเซลล์แสงอาทิตย์ความเข้มข้น III – V ใช้ติดต่อเหล่านี้ต่ำแสดงการแสดงของพวกเขายาว

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

เรารายงานที่นี่เสถียรภาพไฟฟ้าและความร้อนของ
n-ประเภทและชนิดพีรายชื่อCu ตามหลังหนอนบ่อนไส้ให้พวกเขาเป็นระยะ ๆ
การรักษาความร้อนและกระบวนการความเครียดสูงในปัจจุบัน นอกจากนี้ความน่าเชื่อถือของความเข้มข้น III-V เซลล์แสงอาทิตย์การนำรายชื่อต่ำเหล่านี้จะแสดงให้เห็นในการแสดงของพวกเขาปฏิบัติ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

เรารายงานที่นี่ไฟฟ้าและความร้อนเสถียรภาพของทั่วไปและทองแดงจากพี
ติดต่อหลังจากที่ subjecting เพื่อรักษาความร้อนและความเครียดเป็นระยะ
กระบวนการปัจจุบันสูง นอกจากนี้ ความน่าเชื่อถือของ 3 – 5
ความเข้มข้นเซลล์แสงอาทิตย์ที่ใช้ติดต่อ
เหล่านี้ต่ำแสดงให้เห็นแสดงความเหมาะสมของตน