Normally, wafer must be held on vac

Normally, wafer must be held on vacuum wand to inspect wafer lot number at wafer edge to inspect correct lot number before DAF laminating.
Base on operator and technician interview, wafer lot can’t be inspected due to unclear alphabet of wafer lot at wafer edge. So, the problematic wafer was moved to do inspection under ring light (3X). Unfortunately, wire of ESD box touch problematic wafer during ring light catching. Finally, wafer dropping and broken wafer problem was found.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

โดยปกติ ต้องจัดแผ่นเวเฟอร์ในสูญญากาศเรียวเพื่อตรวจสอบหมายเลขล็อตแผ่นเวเฟอร์ที่ขอบแผ่นเวเฟอร์เพื่อตรวจสอบหมายเลขล็อตที่ถูกต้องก่อนที่จะประกบเยอรมันฐานในการสัมภาษณ์ผู้ประกอบการและช่างเทคนิค แผ่นเวเฟอร์จำนวนมากไม่สามารถจะตรวจสอบเนื่องจากอักษรชัดเจนของแผ่นเวเฟอร์มากที่ขอบแผ่นเวเฟอร์ ดังนั้น แผ่นเวเฟอร์มีปัญหาถูกย้ายไปทำการตรวจสอบภายใต้แหวนแสง (3 X) อับ สาย ESD กล่องสัมผัสปัญหาแผ่นเวเฟอร์ในวงแหวนไฟจับ สุดท้าย ขัดแผ่นวาง และแผ่นเวเฟอร์เสียอย่าง

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ปกติเวเฟอร์จะต้องจัดขึ้นในคันสูญญากาศในการตรวจสอบจำนวนมากเวเฟอร์ที่ขอบเวเฟอร์ในการตรวจสอบจำนวนมากที่ถูกต้องก่อนที่จะเคลือบ DAF.
ฐานในการดำเนินการและการสัมภาษณ์ช่างมากเวเฟอร์ไม่สามารถตรวจสอบได้เนื่องจากตัวอักษรไม่ชัดเจนมากเวเฟอร์ที่ขอบแผ่นเวเฟอร์ . ดังนั้นเวเฟอร์ที่มีปัญหาถูกย้ายไปทำการตรวจสอบภายใต้แสงแหวน (3X) แต่น่าเสียดายที่ลวด ESD กล่องสัมผัสเวเฟอร์ที่มีปัญหาในช่วงแสงแหวนจับ สุดท้ายลดลงและปัญหาเวเฟอร์เวเฟอร์หักก็พบว่า

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

โดยปกติ เวเฟอร์ ต้องถือไม้สูญญากาศเพื่อตรวจสอบหมายเลขที่ขอบแผ่นเวเฟอร์มาก ตรวจสอบจำนวนมากที่ถูกต้องก่อนบานลามิเนต ผู้ควบคุมและช่างเทคนิค
ฐานในการสัมภาษณ์ , เวเฟอร์มากไม่สามารถตรวจสอบเนื่องจากตัวอักษรชัดเจนมากที่ขอบของแผ่นเวเฟอร์ ดังนั้น เวเฟอร์ มีปัญหาถูกย้ายไปทำการตรวจสอบภายใต้แหวนไฟ ( 3x ) ขออภัยลวด ESD กล่องสัมผัสปัญหา เวเฟอร์ ระหว่างวงแหวนแสงจับใจ ในที่สุด , เวเฟอร์ลดลงและปัญหาแผ่นเสียจะถูกพบ