Figure 1 shows the XRD patterns of

Figure 1 shows the XRD patterns of nickel sulphide thin films grown at pH 2.5 for 3 hours under different solution concentrations. The observed peaks at 2θ = 30.2°, 50.3° and 59.5° positions correspond to the (111), (220) and (311) planes. The comparison of the observed diffraction peaks with the standard (JCPDS Reference code: 00-052-1027) confirmed that the material is the cubic of nickel sulphide [11]. Comparison between the films deposited at 0.075 M and 0.1 M reveals that the intensity of the peaks increased, indicating better crystalline phase in the films prepared at lower concentration. This could be clearly seen in the peak attributable to (111) plane, which is more intense. On the other hand, the peaks marked “◊” in the Figure 1 at 2θ =35.4° and 45.2° are belong to indium tin oxide [12] (JCPDS Reference code: 01-089-4597). These peaks are come from ITO glass used as substrate during deposition process

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

รูปที่ 1 แสดงรูปแบบการ XRD ของนิกเกิลซัลไฟด์ฟิล์มบางที่ปลูกที่ pH 2.5 3 ชั่วโมงภายใต้ความเข้มข้นแก้ปัญหาแตกต่างกัน สังเกตยอดที่ 2θ = 30.2°, 50.3° และ 59.5° ตำแหน่งตรงกับ (111), (220) และเครื่องบิน (311) การเปรียบเทียบยอดกระจายสังเกตมาตรฐาน (รหัสอ้างอิง JCPDS: 00-052-1027) ยืนยันว่า วัสดุเป็นลูกบาศก์ของนิกเกิลซัลไฟด์ [11] เปรียบเทียบระหว่างฟิล์มฝาก 0.075 M และ 0.1 M แสดงให้เห็นว่า ความเข้มของยอดเพิ่มขึ้น แสดงดีกว่าผลึกระยะที่ฟิล์มเตรียมที่ความเข้มข้นต่ำ นี้สามารถเห็นได้อย่างชัดเจนใน peak นของ (111) ระนาบ ซึ่งจะรุนแรงมากขึ้น บนมืออื่น ๆ ยอดเขาทำเครื่องหมาย "◊" ในรูปที่ 1 ที่ 2θ = 35.4° และ 45.2° จะเป็นของอินเดียมทินออกไซด์ [12] (รหัสอ้างอิง JCPDS: 01-089-4597) ยอดเขาเหล่านี้เป็นมาจากอิโตะกระจกที่ใช้เป็นพื้นผิวในระหว่างกระบวนการสะสม

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

รูปที่ 1 แสดงรูปแบบ XRD ของฟิล์มบางนิกเกิลซัลไฟด์เติบโตที่ pH 2.5 เป็นเวลา 3 ชั่วโมงภายใต้ความเข้มข้นของการแก้ปัญหาที่แตกต่างกัน ยอดเขาสังเกตเห็น2θ = 30.2 องศา 50.3 องศาและ 59.5 องศาตำแหน่งตรงกับ (111) (220) และ (311) เครื่องบิน การเปรียบเทียบยอดการเลี้ยวเบนสังเกตกับ (รหัส JCPDS อ้างอิง: 00-052-1027) มาตรฐานได้รับการยืนยันว่าวัสดุที่เป็นลูกบาศก์ของนิกเกิลซัลไฟด์ [11] เปรียบเทียบระหว่างภาพยนตร์ฝากที่ 0.075 M และ M 0.1 แสดงให้เห็นว่าความเข้มของยอดเขาที่เพิ่มขึ้นแสดงให้เห็นผลึกที่ดีขึ้นในภาพยนตร์ที่จัดทำที่มีความเข้มข้นต่ำ นี้อาจจะเห็นได้ชัดในจุดสูงสุดส่วนที่ (111) เครื่องบินซึ่งเป็นที่รุนแรงมากขึ้น ในทางตรงกันข้ามยอดเขาที่มีเครื่องหมาย "◊" ในรูปที่ 1 ที่2θ = 35.4 องศาและ 45.2 องศาจะเป็นของอินเดียมทินออกไซด์ [12] (รหัส JCPDS อ้างอิง: 01-089-4597) ยอดเหล่านี้จะมาจากแก้ว ITO ใช้เป็นสารตั้งต้นในระหว่างขั้นตอนการสะสม

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

รูปที่ 1 แสดงวิเคราะห์รูปแบบของนิกเกิลซัลไฟด์ ฟิล์มโตที่ pH 2.5 3 ชม. ความเข้มข้นสารละลายต่าง ๆ และยอดที่ 2 θ = 30.2 องศาองศา , และบริหารโดย 59.5 ตำแหน่งตรงกับ ( 111 ) ( 220 ) และ ( 311 ) เครื่องบิน เปรียบเทียบกับมาตรฐาน ( สังเกตจากยอด jcpds รหัสอ้างอิง : 00-052-1027 ) ยืนยันว่าวัสดุที่เป็นลูกบาศก์ของนิกเกิลซัลไฟด์ [ 11 ] การเปรียบเทียบระหว่างหนังฝากไว้ที่ 0.075 m และ 0.1 โมลาร์ พบว่า ความเข้มของยอดเพิ่มขึ้น ซึ่งแสดงระยะในฟิล์มเตรียมผลึกดีกว่าที่ความเข้มข้นต่ำ นี้สามารถเห็นได้อย่างชัดเจนในช่วงข้อมูล ( 111 ) เครื่องบินซึ่งจะรุนแรงมากขึ้น บนมืออื่น ๆ , ยอดเครื่องหมาย " ◊ " ในรูปที่ 1 ที่ 2 θ = 35.4 องศาองศา และฝึกอยู่อินเดียมทินออกไซด์ [ 12 ] ( jcpds รหัสอ้างอิง : 01-089-4597 ) ยอดนี้ได้มาจาก ITO แก้วที่ใช้เป็นวัตถุดิบในกระบวนการสะสม