Themicrostructure was characterized

The
microstructure was characterized using scanning electron microscope
(SEM, Hitachi S-3000, 30 KV) with backscatter electron
imaging and transmission electron microscope (TEM, Philips CM-
12, 120 KV) with the energy dispersive X-ray spectroscopy (EDS).

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

จุลภาคก็มีลักษณะการใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด
(SEM ฮิตาชิ S-3000, 30 KV) กับอิเล็กตรอนแบบแสงสะท้อน
การถ่ายภาพและการส่งผ่านกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (TEM ฟิลิปส์ CM-
12 120 KV) ที่มีการกระจายพลังงานสเปกโทรสโกเอ็กซ์เรย์ (EDS)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

มีลักษณะโครงสร้างจุลภาคด้วยกล้องจุลทรรศน์กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน ( SEM , ฮิตาชิ s-3000 30 กิโล ) กับการถ่ายภาพและอิเล็กตรอน
กระเจิงกลับกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน ( TEM , Philips ซม. -
12 , 120 kV ) กับพลังงานกระจายตัวเอกซ์เรย์ ( EDS )