2.2.4 X-ray Diffraction (XRD)XRD wa

2.2.4 X-ray Diffraction (XRD)
XRD was conducted at ambient temperature with
X’pert PRO X-ray diffractometer (PANalytical,
Netherlands) having an X-ray tube producing
monochromatic CuK
radiation. Powdered samples were
mounted onto sample stage to record the crystallinity
index. Sample stage was mounted on horizontal axis and
the diffracted beam optics and the detector were mounted
on 2 axis. The scanning rate was 0.5°/min at 2 = 5° -
35° under the acceleration voltage of 30 KV and 20 mA.

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

2.2.4 X-ray การเลี้ยวเบน (XRD)
XRD ได้ดำเนินการที่อุณหภูมิห้องมี
X'pert PRO X-ray diffractometer (PANalytical,
เนเธอร์แลนด์) มีหลอด X-ray การผลิต
Cuk เดียว? การแผ่รังสี ตัวอย่างผงถูกติดตั้งลงบนเวทีของกลุ่มตัวอย่างในการบันทึกผลึกดัชนี ขั้นตอนตัวอย่างได้รับการติดตั้งบนแกนนอนและเลนส์ลำแสง diffracted ตรวจจับและถูกติดตั้งเมื่อวันที่2? แกน อัตราการสแกนเป็น 0.5 ° / นาทีที่ 2? = 5 ° - 35 °ภายใต้แรงดันการเร่งความเร็วของ 30 KV และ 20 มิลลิแอมป์

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

2.2.4 การเลี้ยวเบนของรังสีเอ็กซ์
XRD ดำเนินการที่อุณหภูมิด้วย
x'pert เอ็กซ์เรย์ดิฟแฟรกโทมิเตอร์ ( panalytical
Pro , เนเธอร์แลนด์ ) มีหลอดรังสีเอ๊กซ์ผลิต
monochromatic cuk
รังสี ตัวอย่างผงถูก
ติดลงบนเวทีตัวอย่างบันทึกดัชนีความเป็นผลึก

ตัวอย่างขั้นตอนติดตั้งบนแกนแนวนอนและ
กระจายลำแสงทัศนศาสตร์และอุปกรณ์ติด
2  แกนสแกนอัตรา 0.5 องศา / นาทีที่ 2  = 5 องศา - 35 องศาใต้ เร่งแรงดัน
30 กิโล 20 ma