The technique of Secondary Ion Mass

The technique of Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS) is the most sensitive of all the commonly-employed surface analytical techniques - capable of detecting impurity elements present in a surface layer at < 1 ppm concentration, and bulk concentrations of impurities of around 1 ppb (part-per-billion) in favourable cases. This is because of the inherent high sensitivity associated with mass spectrometric-based techniques.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

เทคนิคของมวลรองไอออน spectrometry (เดอะซิมส์) เป็นส่วนใหญ่ที่มีความสำคัญของทุกคนโดยทั่วไปลูกจ้างเทคนิคการวิเคราะห์พื้นผิว - สามารถตรวจสอบองค์ประกอบบริสุทธิ์ที่มีอยู่ในชั้นผิวที่ <1 ppm ความเข้มข้นและความเข้มข้นเป็นกลุ่มของสิ่งสกปรกจากประมาณ 1 ppb ( ส่วนต่อพันล้านดอลลาร์) ในกรณีที่ดีนี้เป็นเพราะความไวสูงโดยธรรมชาติที่เกี่ยวข้องกับเทคนิคของ Spectrometric ตามมวล

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

เทคนิคของรองไอออนมวลใน Spectrometry (ซิมส์) สำคัญที่สุดของทั้งหมดทำงานโดยทั่วไปผิววิเคราะห์เทคนิค - สามารถตรวจองค์ประกอบมลทินที่อยู่ในชั้นผิวที่เข้มข้น < 1 ppm และจำนวนมากความเข้มข้นของสิ่งสกปรกรอบ 1 ppb (ส่วนต่อล้าน) ในกรณีที่ดีได้ นี้เป็น เพราะความไวสูงโดยธรรมชาติที่เกี่ยวข้องกับมวล spectrometric ใช้เทคนิค

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

เทคนิคของไอออนขนาดใหญ่ spectrometry ( SIM )เป็นความสำคัญมากที่สุดของทั้งหมดที่ใช้กันอยู่ทั่วไป - ใช้พื้นผิวเทคนิคในการวิเคราะห์ซึ่งมีความสามารถในการตรวจจับสารปนเปื้อนองค์ประกอบในปัจจุบันในพื้นที่ชั้นใน< 1 แผ่นต่อนาทีความเข้มข้นและความเข้มข้นของสิ่งสกปรกเป็นจำนวนมากในรอบ 1 ppb (ส่วนต่อล้านบาท)ในกรณีนี้.โรงแรมแห่งนี้เป็นเพราะมีความไวแสงสูงในเรื่องที่เกี่ยวข้องกับด้านเทคนิค spectrometric - ใช้มวลชน