The crystalline properties of the (

The crystalline properties of the (1
x)BNT–xBKT ceramics were analyzed by X-ray diffraction (XRD, Bruker-AXS; New D8- Advance). The microstructure of the (1
x)BNT–xBKT ceramics was observed by field emission scanning electron microscopy (FESEM, Carl Zeiss; SIGMA). The piezoelectric charge constant (d33) was measured by Berlin-court quasi-static meter and capacitance versus frequency (C–f) was obtained employing an impedance analyzer (Agilent; 4294 A) to obtain the dielectric constant (εr) and the electromechanical coupling factor (kp).

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

คุณสมบัติผลึกของเซรามิกส์ (1 x) BNT – xBKT ถูกวิเคราะห์ โดยการเลี้ยวเบนรังสีเอ็กซ์ (XRD, Bruker AXS ใหม่ D8-ล่วงหน้า) โครงสร้างจุลภาคของเซรามิกส์ BNT – xBKT (1 x) พบว่า โดยการปล่อยแกนชาวดัตช์ (FESEM, Carl Zeiss ซิกม่า) ชั่นค่าคง (d33) โดยวัดจากมิเตอร์วัดไฟฟ้าสถิตกึ่งศาลเบอร์ลิน และความจุเมื่อเทียบกับความถี่ (C – f) มาใช้วิเคราะห์มีความต้านทาน (Agilent; 4294 A) จะได้รับคงเป็นฉนวน (εr) และตัวเชื่อมต่อไฟฟ้า (kp)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

คุณสมบัติของผลึก (? 1 x) เซรามิก BNT-xBKT นำมาวิเคราะห์โดย X-ray การเลี้ยวเบน (XRD, Bruker AXS-; ใหม่ D8- ล่วงหน้า) จุลภาคของ (? 1 x) เซรามิก BNT-xBKT ได้รับการตรวจสอบโดยใช้กล้องจุลทรรศน์ข้อมูลการปล่อยอิเล็กตรอนสแกน (FESEM, Carl Zeiss; SIGMA) ค่าใช้จ่าย piezoelectric คงที่ (D33) โดยวัดจากเบอร์ลินศาลเมตรกึ่งคงที่และความจุเมื่อเทียบกับความถี่ (C-F) ที่ได้รับการจ้างงานวิเคราะห์ความต้านทาน (Agilent; 4294 A) ที่จะได้รับอย่างต่อเนื่องอิเล็กทริก (εr) และการมีเพศสัมพันธ์ไฟฟ้า ปัจจัย (KP)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

คุณสมบัติของผลึก ( 1 ) xbkt เซรามิก BNT –วิเคราะห์ด้วยเครื่อง X-ray diffraction ( XRD , BRUKER ขวาน ; ใหม่ d8 - ล่วงหน้า ) โครงสร้างจุลภาคของเซรามิก BNT ( 1x ) – xbkt 2 สนามจากกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( fesem , Carl Zeiss ; Sigma ) เพียโซอิค่าใช้จ่ายคงที่ ( d33 ) วัดจากเบอร์ลิน ศาล quasi-static เครื่องวัดความถี่และความจุ ( C ) F ) ได้ใช้เป็นแบบวิเคราะห์ ( Agilent ; 3541 ) เพื่อให้ได้สมบัติไดอิเล็กทริกคงที่ ( ε R ) และ electromechanical coupling ตัวประกอบ ( KP )