Fig.1ashows the XRD patterns of the

Fig.1ashows the XRD patterns of the four samples.All the peaks can be indexed to the hexagonal wurtzite structure AlN with lattice parameters of a¼3.111Åandc¼4.979Å(ICDDPDFno.25-1133).The strongest peak of (002)plane shows that all samples preferentially grow along the c axis and the growth temperature does not affect the preferred orientation.However,theintensity and the full wid that halfmaximum(FWHM)of(002)diffraction peak decrease with

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

Fig.1ashows XRD รูปแบบของตัวอย่าง 4ยอดทั้งหมดสามารถถูกทำดัชนีโครงสร้างหกเหลี่ยม wurtzite AlN ด้วยโครงตาข่ายประกอบพารามิเตอร์ของ a¼3.111Åandc¼4.979Å(ICDDPDFno.25-1133)สูงสุดแข็งแกร่งของเครื่องบิน (002) แสดงว่า ตัวอย่างทั้งหมดเติบโตขึ้นก่อนแกน c และอุณหภูมิเจริญเติบโตมีผลต่อการวางแนวที่ต้องการอย่างไรก็ตาม theintensity และ wid เต็มที่ halfmaximum (FWHM) ของช่วงการเลี้ยวเบน (002) ลดลงด้วย

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

Fig.1ashows รูปแบบ XRD ของสี่ samples.All ยอดเขาสามารถจัดทำดัชนีโครงสร้าง wurtzite หกเหลี่ยม ALN กับพารามิเตอร์ตาข่ายa¼3.111Åandc¼4.979Å (ICDDPDFno.25-1133) ความแข็งแกร่งของยอดเขา (002) เครื่องบินแสดงให้เห็นว่า ทุกตัวอย่างพิเศษเติบโตไปพร้อมแกน C และอุณหภูมิการเจริญเติบโตไม่ได้ส่งผลกระทบต่อ orientation.However ต้องการ theintensity และเต็มรูปแบบวิดว่า halfmaximum (FWHM) ของ (002) ลดลงสูงสุดกับการเลี้ยวเบน

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

fig.1ashows การวิเคราะห์รูปแบบของทั้งสี่คน ยอดทั้งหมดสามารถสร้างดัชนีกับโครงสร้าง wurtzite หกเหลี่ยม ALN กับแลตทิซพารามิเตอร์ของ¼ 3.111 • c ¼ 4.979 กริพเพน ( icddpdfno . 25-1133 ) ที่แข็งแกร่งที่สุดยอด ( 002 ) เครื่องบิน พบว่าตัวอย่างทั้งหมด preferentially เติบโตไปตามแกน C และอุณหภูมิไม่มีผลต่อการเจริญเติบโต แนวที่ต้องการ อย่างไรก็ตามการเกิดและเต็มรูปแบบหมายเลขที่ halfmaximum ( FWHM ) ( 002 ) โดยมียอดลดลง