was observed on the surfaces of the

was observed on the surfaces of the PE films using scanning electron microscopy (SEM) and atomic force microscopy (AFM)

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

สังเกตได้บนพื้นผิวของฟิล์ม PE ที่ใช้ microscopy อิเล็กตรอนสแกน (SEM) และ microscopy แรงอะตอม (AFM)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ถูกพบบนพื้นผิวของฟิล์ม PE โดยใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM) และกล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม (AFM)