Atomic force microscopy (AFM) shows

Atomic force microscopy (AFM) shows that
the resulting CCG sheets that are cast on a silicon wafer are flat, with a thickness of ~1 nm

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

Microscopy แรงอะตอม (AFM) แสดงที่แผ่น CCG เกิดที่โยนบนแผ่นเวเฟอร์ซิลิกอนถูกแบน มีความหนาของ ~ 1 nm

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม (AFM) แสดงให้เห็นว่า
แผ่น CCG ผลที่ถูกโยนบนแผ่นเวเฟอร์ซิลิกอนจะแบนที่มีความหนาประมาณ 1 นาโนเมตร

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม ( AFM ) พบว่า ผล ccg
แผ่นที่ถูกโยนบนซิลิคอนเวเฟอร์จะแบนที่มีความหนาของ ~ 1 นาโนเมตร