It turned out (as expected) that th

It turned out (as expected) that the temperature-to- frequency relationship is almost linear for the temperature range tested (for a wider temperature range, especially below operating temperature and cryogenic range, the ring oscillators, as well as RC oscillators, have a strongly non- linear dependence [9]). For future calibration equations, linear regression coefficients for every individual sensor can be calculated. In any case, in future measurements, the calibration process should take into account the thermal properties of the device, as well as sensors locations.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

จะเปิดออก (ตามที่คาดไว้) ว่าความสัมพันธ์ของอุณหภูมิความถี่เกือบเชิงเส้นในช่วงอุณหภูมิที่ทดสอบ (สำหรับ ช่วงอุณหภูมิกว้าง ต่ำกว่าอุณหภูมิทำงานโดยเฉพาะอย่างยิ่ง และช่วง cryogenic, oscillators แหวน ตลอดจน RC oscillators มีเป็นอย่างยิ่งใช่เชิงเส้นพึ่งพา [9]) สำหรับในอนาคตเทียบสมการ ค่าสัมประสิทธิ์การถดถอยเชิงเส้นสำหรับเซ็นเซอร์ทุกแต่ละสามารถคำนวณ ในอนาคตวัด การสอบเทียบควรคำนึงคุณสมบัติความร้อนอุปกรณ์ ตลอดจนที่ตั้งเซนเซอร์

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

มันเปิดออก (ตามที่คาดไว้) ว่ามีความสัมพันธ์ความถี่อุณหภูมิ-to-เกือบเชิงเส้นสำหรับช่วงอุณหภูมิการทดสอบ (สำหรับช่วงอุณหภูมิที่กว้างขึ้นโดยเฉพาะอย่างยิ่งด้านล่างอุณหภูมิในการทำงานและช่วงอุณหภูมิที่ oscillators แหวนเช่นเดียวกับ oscillators RC มี ขอไม่พึ่งพาเชิงเส้น [9]) สำหรับสมการสอบเทียบในอนาคตค่าสัมประสิทธิ์การถดถอยเชิงเส้นสำหรับเซ็นเซอร์บุคคลทุกคนสามารถคำนวณได้ ในกรณีใด ๆ ในอนาคตการวัดกระบวนการสอบเทียบควรคำนึงถึงสมบัติทางความร้อนของอุปกรณ์เช่นเดียวกับสถานที่เซ็นเซอร์

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

มันออกมา ( ตามที่คาดไว้ ) ที่อุณหภูมิ - ความสัมพันธ์เชิงเส้นความถี่เกือบสำหรับช่วงอุณหภูมิทดสอบ ( สำหรับช่วงอุณหภูมิกว้างโดยเฉพาะอุณหภูมิแช่แข็งด้านล่างช่วง Ring oscillators เช่น oscillators RC มีขอไม่เชิงเส้นการพึ่งพา [ 9 ] ) สมการการในอนาคตการถดถอยเชิงเส้นสำหรับทุกเซ็นเซอร์แต่ละสามารถคํานวณ ในกรณีใด ๆ ในวัดในอนาคต กระบวนการสอบเทียบควรคำนึงถึงคุณสมบัติทางความร้อนของอุปกรณ์ ตลอดจนสถานที่

เซ็นเซอร์