X-ray diffraction (XRD) patterns of

X-ray diffraction (XRD) patterns of H-ZSM-5 zeolites were
recorded on a Rigaku RINT2400 diffractometer using Cu-K radiation.

Quantitative measurements of the Si/Al ratio were performed
using inductively coupled plasma-atomic emission spectroscopy
(ICP-AES) using a Rigaku JY 38S spectrometer.

Before the measurements,
the prepared zeolites were dissolved in HF solution. The
N2 adsorption measurements were carried out at 77K on a Coulter
SA3100

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

X-ray diffraction (XRD) รูปแบบของ H-ZSM-5
ซีโอไลต์ถูกบันทึกอยู่ในRigaku RINT2400 diffractometer ใช้รังสี Cu-K. วัดเชิงปริมาณของศรี / อัตราส่วนอัลได้ดำเนินการโดยใช้สเปกโทรสโกการปล่อยinductively คู่พลาสม่าอะตอม(ICP-AES ) โดยใช้สเปกโตรมิเตอร์ Rigaku JY 38S. ก่อนที่จะวัด, ซีโอไลต์เตรียมละลายในสารละลาย HF การวัดการดูดซับ N2 ได้ดำเนินการที่ 77K ในโคลเตอร์SA3100

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

เครื่อง X-ray diffraction ( XRD ) รูปแบบของแบบซีโอไลต์เป็น
บันทึกไว้ใน rigaku rint2400 ดิฟแฟรกโทมิเตอร์โดยใช้รังสี cu-k

ปริมาณการวัดอัตราส่วน Si / Al ) มีการใช้อุปนัยพลาสมาอะตอมคู่

( Emission spectroscopy เทคนิค ) โดยใช้ rigaku JY 38s สเปกโตรมิเตอร์

ก่อนการวัด
เตรียมซีโอไลต์ละลาย HF โซลูชั่น
2 การวัดการดูดซับทดลองที่ 77k บน
sa3100 โคลเตอร์