2.2. Self-diffusion experiments
For the 18O2 self-diffusion experiments, all sampleswere first heated
at 1000 °C for 24 h in an atmosphere of 200 mbar of dry 16O2 with
99.999% purity in order to equilibrate them and to heal polishing defects.
For each diffusion temperature, the samples were equilibrated
for about ten times the estimated subsequent diffusion time in an oxygen
partial pressure similar to the subsequent diffusion. The diffusion
temperature was monitored by Pt–Pt/Rh thermocouple positioned
near the sample. After the equilibration time at the diffusion temperature,
the samples were then annealed in dry 18O2 (with 92% isotope purity,
purchased from Campro Scientific, Berlin, Germany) atmosphere
for a certain diffusion time,which has been estimated in preliminary experiments.
The time was chosen with respect to the thickness of the
sample, and attention was paid that the final diffusion length was less
than the half of the sample thickness. The oxygen partial pressure was
kept constant at 200 mbar in all experiments. The sample is small
enough to avoid 18O2 dilution with the exchanged 16O2 during the
experiment. The temperature was varied between 600 and 800 °C and
the diffusion time between 25 min at 800 °C and 270 min at 600 °C.
At each temperature, all four samples have been put at the same time
in the furnace, leading to the same experimental conditions for all samples.
In order to obtain reliable results and to control the procedures,we
repeated experiments at different temperatures.
The oxygen incorporation processes using 18O2 as gas source were
studied by isotope exchange depth profiling (IEDP) and line scans by
means of secondary ion mass spectrometry (SIMS). A Cameca IMS
4f SIMS with a 10 KV Cs + primary ion beam (20 nA) was used for
depth profiling and line scanning in the negative ion mode. Although
the samples were coated with a 30-nm gold layer to reduce charging
effects, additional charge compensation by using an electron gun was
necessary because ATLS are strong insulators.
Under the chosen experimental conditions, diffusion profiles of
several hundreds of μm are obtained.
In order to performthe line scans, the samples have been cut in two
halves perpendicular to the large polished surface. The resulting two cross sections have been embedded in resin and polished and used in
the embedded form for the SIMS line scans. The line scan has been always
started at the polished side. The surface concentration has been
measured in the depth profiling mode. When needed, crater depths
were measured after the SIMS experiments using a surface profiler.
Typical profiles are given exemplarily in Fig. 3.
2.2. Self-diffusion experimentsFor the 18O2 self-diffusion experiments, all sampleswere first heatedat 1000 °C for 24 h in an atmosphere of 200 mbar of dry 16O2 with99.999% purity in order to equilibrate them and to heal polishing defects.For each diffusion temperature, the samples were equilibratedfor about ten times the estimated subsequent diffusion time in an oxygenpartial pressure similar to the subsequent diffusion. The diffusiontemperature was monitored by Pt–Pt/Rh thermocouple positionednear the sample. After the equilibration time at the diffusion temperature,the samples were then annealed in dry 18O2 (with 92% isotope purity,purchased from Campro Scientific, Berlin, Germany) atmospherefor a certain diffusion time,which has been estimated in preliminary experiments.The time was chosen with respect to the thickness of thesample, and attention was paid that the final diffusion length was lessthan the half of the sample thickness. The oxygen partial pressure waskept constant at 200 mbar in all experiments. The sample is smallenough to avoid 18O2 dilution with the exchanged 16O2 during theexperiment. The temperature was varied between 600 and 800 °C andthe diffusion time between 25 min at 800 °C and 270 min at 600 °C.At each temperature, all four samples have been put at the same timein the furnace, leading to the same experimental conditions for all samples.In order to obtain reliable results and to control the procedures,weทดลองซ้ำที่อุณหภูมิแตกต่างกันกระบวนการประสานออกซิเจนโดยใช้ 18O2 เป็นแหล่งก๊าซธรรมชาติได้ศึกษาตามความลึกของการแลกเปลี่ยนไอโซโทปสร้างโพรไฟล์ (IEDP) และเส้นสแกนโดยหมายความว่ารองไอออนโตรเมทรี (ซิมส์) Cameca IMS4f ใช้สำหรับซิมส์ 10 KV Cs +คานไอออนหลัก (หน้า 20)สร้างโพรไฟล์ความลึกและการสแกนในโหมดไอออนลบบรรทัด ถึงแม้ว่าตัวอย่างถูกเคลือบ ด้วยชั้นทอง 30 nm เพื่อลดการชาร์จมีค่าธรรมเนียมเพิ่มเติมค่าตอบแทน โดยการใช้ปืนอิเล็กตรอนเป็นผลจำเป็นเนื่องจาก ATLS ลูกถ้วยแรงสภาวะที่ท่านทดลอง โพรไฟล์แพร่μm หลายร้อยจะได้รับในสั่งสแกนบรรทัด performthe ตัวอย่างการตัดสองด้านที่ตั้งฉากกับพื้นผิวขัดเงาขนาดใหญ่ ส่วนขนสองผลลัพธ์ได้ฝังอยู่ในยาง และขัดเงา และใช้ในแบบฟอร์มที่ฝังตัวสำหรับสแกนรายการเดอะซิมส์ ได้รับการสแกนบรรทัดเสมอเริ่มต้นที่ด้านที่สวยงาม ความเข้มข้นผิวได้วัดลึกที่สร้างโพรไฟล์โหมด เมื่อจำเป็น ปล่องลึกไม่วัดหลังจากใช้ตัวสร้างโพรไฟล์ผิวทดลองเดอะซิมส์โพรไฟล์ทั่วไปจะได้รับ exemplarily ใน Fig. 3
การแปล กรุณารอสักครู่..
