Representative samples were charact

Representative samples were characterized by XRD with Cu Kα
radiation on a Bruker D8 Advance Diffractometer with Bragg–
Brentano geometry. The XRD patterns were analyzed and refined
by means of the TOPAS 3 software (provided by Bruker), applying
the fundamental parameter approach for peak profile modeling. In
order to check the calculated compositions selected samples were
analyzed by scanning electron microscopy (SEM; Zeiss Supra
55 VP) using energy dispersive X-ray spectroscopy (EDS).

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ตัวอย่างแทนโดดเด่นด้วย XRD กับ Cu Kα
รังสีต่อ Bruker D8 ล่วงหน้ามาตรการเลี้ยวเบนกับ Bragg-
เรขาคณิต Brentano รูปแบบ XRD ถูกนำมาวิเคราะห์และการกลั่น
โดยวิธีการของ TOPAS 3 ซอฟแวร์ (โดย Bruker) ใช้
วิธีการพื้นฐานพารามิเตอร์สำหรับการสร้างแบบจำลองรายละเอียดสูงสุด ใน
การสั่งซื้อเพื่อตรวจสอบองค์ประกอบคำนวณตัวอย่างที่เลือกได้รับการ
วิเคราะห์โดยใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM; Zeiss Supra
55 VP) ที่ใช้พลังงานกระจายสเปกโทรสโก X-ray (EDS)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ตัวอย่างด้วยเทคนิค XRD กับ Cu K α
รังสีในบรุคเกอร์ d8 ล่วงหน้าดิฟแฟรกโทมิเตอร์กับแบร็ก–
โนเรขาคณิต การศึกษาเฟสรูปแบบวิเคราะห์และการกลั่น
โดยวิธีการของโทแพส 3 ซอฟต์แวร์ ( โดยบรุคเกอร์ ) , ใช้
วิธีพารามิเตอร์พื้นฐานสำหรับการจำลองข้อมูลสูงสุด ในการตรวจสอบค่า

องค์ประกอบเลือกกลุ่มตัวอย่างวิเคราะห์ด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ; Zeiss Supra
55 VP ) ใช้รังสีเอกซ์พลังงานกระจายตัวสเปกโทรสโกปี ( EDS )