frameworksIn this section, we will

frameworksIn this section, we will review briefly and simply the depen-dence on external potential of the wave property of electronflux used on SEM and TEM technologies. For this reason, firstof all, it should be mentioned the influence of wave propertieson growing and resolution. The shortest distance between twopoints, which can be distinguished from each other, is calledresolution. For example, the average resolution for the humaneye is approximately 0.1–0.2 mm and the resolution in opticmicroscopes is much smaller than this value. In the generalcase, we can calculate the resolution of the microscope withthe following equation: ı = (0.61/ sin ˇ) (here  – wavelength, – refraction index and ˇ – observation angle in zoom lens)

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

frameworksIn ส่วนนี้ เราจะทบทวนสั้น ๆ และง่าย ๆ depen-dence บนศักยภาพภายนอกของคลื่นคุณสมบัติของ electronflux ใช้ SEM และ TEM เทคโนโลยี ด้วยเหตุนี้ firstof ทั้งหมด มันควรจะกล่าวถึงอิทธิพลของคลื่น propertieson เจริญเติบโตและความละเอียด ระยะทางที่สั้นที่สุดระหว่าง twopoints ซึ่งจะต่างจากคนอื่น ๆ เป็น calledresolution ตัวอย่างเช่น ความละเอียดเฉลี่ยสำหรับการ humaneye คือ ประมาณ 0.1 – 0.2 มม.และความละเอียดใน opticmicroscopes เป็นขนาดเล็กกว่าค่านี้ ใน generalcase เราสามารถคำนวณความละเอียดของกล้องจุลทรรศน์ด้วยสมการต่อไปนี้: ı = (0.61 / บาปˇ) (ที่นี่ – คลื่น, – ดัชนีหักเห และ ˇ – สังเกตมุมในการซูมเลนส์)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

frameworksIn ส่วนนี้เราจะตรวจสอบในเวลาสั้น ๆ และเพียง depen-มั่นใจศักยภาพภายนอกของคลื่นทรัพย์สินของ electronflux ใช้ใน SEM และเทคโนโลยี TEM ด้วยเหตุนี้ firstof ทุกอย่างที่มันควรจะกล่าวถึงอิทธิพลของคลื่น propertieson การเจริญเติบโตและความละเอียด ระยะทางที่สั้นที่สุดระหว่าง twopoints ซึ่งอาจจะแตกต่างจากคนอื่น ๆ คือ calledresolution ตัวอย่างเช่นความละเอียดเฉลี่ยสำหรับ humaneye จะอยู่ที่ประมาณ 0.1-0.2 มิลลิเมตรและความละเอียดใน opticmicroscopes มีมากน้อยกว่าค่านี้ ใน generalcase เราสามารถคำนวณความละเอียดของกล้องจุลทรรศน์ withthe สมการต่อไปนี้: i = (? 0.61 / SIN) (? ที่นี่ - ความยาวคลื่น ,? - ดัชนีการหักเหและ - มุมสังเกตเลนส์ซูม)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

frameworksin ส่วนนี้เราจะทบทวนสั้น ๆและเพียง depen dence ศักยภาพภายนอกของคลื่น สมบัติของ electronflux ใช้เทคโนโลยี SEM และ TEM . เหตุผลนี้ firstof ทั้งหมด มันควรจะกล่าวถึงอิทธิพลของคลื่น propertieson เติบโตและความละเอียด ระยะทางที่สั้นที่สุดระหว่าง twopoints ซึ่งจะแตกต่างจากแต่ละอื่น ๆ คือ calledresolution . ตัวอย่างเช่นความละเอียดปานกลาง สำหรับ humaneye ประมาณ 0.1 - 0.2 มิลลิเมตร และความละเอียดใน opticmicroscopes มีขนาดเล็กกว่าคุณค่านี้ ใน generalcase เราสามารถคำนวณความละเอียดของกล้องจุลทรรศน์จากสมการต่อไปนี้ : ı = ( 0.61/ บาปˇ ) ( ที่นี่ ) และดัชนีการหักเหคลื่น และมุมการตรวจสอบในˇ ( ซูมเลนส์ )