phase evaluation: XRD patterns of Z

phase evaluation: XRD patterns of ZnO,IGZO and ZnO/IGZO thin films with and without annealing are shown in fig. 1. the as deposited IGZO thin film appears amorphous. The ZnO thin film

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ระยะประเมินผล: รูปแบบ XRD IGZO, ZnO และ ZnO/IGZO บาง ๆ มี และไม่ มีการอบเหนียวแสดงใน fig. 1 ฟิล์มบาง IGZO ที่นำฝากไปแล้ว ฟิล์มบางของ ZnO

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

การประเมินผลขั้นตอน: รูปแบบ XRD ของซิงค์ออกไซด์, ซิงค์ออกไซด์และ IGZO / IGZO ฟิล์มบางที่มีและไม่มีการหลอมจะแสดงในรูป 1. ฝาก IGZO เป็นฟิล์มบางอะมอร์ฟัปรากฏ ซิงค์ออกไซด์ฟิล์มบาง

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การประเมินระยะ : วิเคราะห์รูปแบบของ ZnO , และฟิล์มบาง ZnO / IGZO IGZO ที่มีและไม่มีการอบอ่อนที่แสดงในรูปที่ 1 เป็นฟิล์มบาง ๆฝาก IGZO ปรากฏสัณฐาน . โดยฟิล์มบางซิงค์ออกไซด์