The surface morphology of the TiO2

The surface morphology of the TiO2 films and powders were
observed using scanning electron microscopy (SEM) (Philips XL-
30ESM) equipped with an energy dispersive X-ray (EDX). The
extent of MO degradation was monitored using UV–Vis spectrophotometer
(Perkin Elmer Lambda2S).

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

มีสัณฐานวิทยาที่พื้นผิวของฟิล์ม TiO2 และผงสังเกตใช้ microscopy อิเล็กตรอนสแกน (SEM) (ฟิลิปส์ XL-30ESM) พร้อมกับมีพลังงานเอกซเรย์ dispersive (เรื่อง) ที่ขอบเขตของการสลายตัว MO ถูกตรวจสอบโดยใช้เครื่องทดสอบกรดด่าง UV – Vis(เพอร์ Lambda2S เอลเมอ)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ลักษณะพื้นผิวของฟิล์ม TiO2 และผงถูก
ตั้งข้อสังเกตโดยใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM) (ฟิลิปส์ XL-
30ESM) พร้อมกับการกระจายพลังงาน X-ray (EDX)
ขอบเขตของการย่อยสลาย MO ถูกตรวจสอบโดยใช้ UV-Vis Spectrophotometer
(Perkin Elmer Lambda2S)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ลักษณะพื้นผิวของฟิล์มและผง TiO2
สังเกตด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) ( Philips XL -
30esm ) พร้อมกับพลังงานกระจายตัวรังสี ( การวัด )
ขอบเขตของการย่อยสลายโมถูกตรวจสอบด้วย UV Spectrophotometer ( เพอร์กินเอลเมอร์ ( 2
lambda2s )