anodic current efficiency, short ci

anodic current efficiency, short circuits and variation of electrolyte
conductivity in the IEG can be met during the ECM or
μECM process [3, 7, 44]. These events influence the material
removal rate and therefore create a non-desired variation of
the IEG.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ประสิทธิภาพปัจจุบันไล ลัดวงจร และการเปลี่ยนแปลงของอิเล็กโทรไลต์การนำไฟฟ้าใน IEG สามารถตอบสนองในระหว่าง ECM หรือกระบวนการ μECM [3, 7, 44] เหตุการณ์เหล่านี้มีอิทธิพลต่อวัสดุเอาคะแนน และดังนั้นจึงไม่ต้องการที่หลากหลายIEG

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ประสิทธิภาพปัจจุบันขั้วบวกลัดวงจรและการเปลี่ยนแปลงของอิ
การนำใน IEG สามารถพบได้ในช่วง ECM หรือ
กระบวนการμECM [3, 7, 44] เหตุการณ์เหล่านี้มีอิทธิพลต่อวัสดุที่
อัตราการกำจัดและดังนั้นจึงสร้างรูปแบบที่ไม่ต้องการ
IEG