As no correlation study between XRD

As no correlation study between XRD and XPS characterisation about the silicide thin films has been found so
far, therefore, this is one important objective in the present study to build such relationship.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

เป็นไม่มี การศึกษาระหว่าง XRD และ XPS ตรวจลักษณะเฉพาะของฟิล์มบาง silicide เกี่ยวกับพบนั้นไกล ดังนั้น นี้เป็นวัตถุประสงค์หนึ่งที่สำคัญในการศึกษาเพื่อสร้างความสัมพันธ์ดังกล่าว

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ขณะที่ไม่มีการศึกษาความสัมพันธ์ระหว่าง XRD และ XPS ลักษณะเกี่ยวกับฟิล์มบางซิลิไซด์ได้รับการพบเพื่อให้
ห่างไกลดังนั้นนี้เป็นไปตามวัตถุประสงค์ที่สำคัญอย่างหนึ่งในการศึกษาครั้งนี้จะสร้างความสัมพันธ์ดังกล่าว