Selected test specimens were also a

Selected test specimens were also analyzed before and after soil
incubation using scanning electron microscopy (SEM) (Hitachi S-
3500N, Hitachi High Technologies America, Inc., CA, U.S.). Samples
were coated with platinum to a thickness of 0.2 kA using a
Hummer 6.2 sputtering system (Anatech USA, CA, U.S.). A 15 Kv
electron beam was applied.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ก็ยังมีวิเคราะห์ทดสอบที่เลือกไว้เป็นตัวอย่างก่อน และ หลังดิน
บ่มโดยใช้ microscopy อิเล็กตรอนสแกน (SEM) (ฮิตาชิ S-
3500N ฮิตาชิสูงเทคโนโลยีอเมริกา Inc., CA สหรัฐอเมริกา) ตัวอย่าง
ถูกเคลือบ ด้วยแพลทินัมจะหนา 0.2 kA ใช้กับ
6.2 Hummer พ่นระบบ (สหรัฐอเมริกา Anatech, CA ) 15 Kv
ใช้ลำแสงอิเล็กตรอน

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ชิ้นทดสอบเลือกถูกวิเคราะห์ก่อนและหลังดิน
บ่มโดยใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM) (ฮิตาชิ S-
3500N ฮิตาชิเทคโนโลยีระดับสูงอเมริกาอิงค์, CA, US) ตัวอย่าง
ที่ถูกเคลือบด้วยทองคำขาวหนา 0.2 kA? ใช้
Hummer? 6.2 ระบบสปัตเตอร์ (Anatech สหรัฐอเมริกา, CA, US) 15 Kv
ลำแสงอิเล็กตรอนที่ถูกนำมาใช้

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

เลือกชิ้นทดสอบยังวิเคราะห์ก่อนและหลังบ่มดิน
โดยใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) ( Hitachi S -
3500n องค์กรเทคโนโลยีสูงอเมริกาอิงค์ , CA , สหรัฐอเมริกา ) ตัวอย่าง
ถูกเคลือบด้วยแพลทินัมเพื่อความหนา 0.2 ค่ะ  ใช้
Hummer  6.2 ทำงานระบบ ( anatech ประเทศสหรัฐอเมริกา แคลิฟอร์เนีย สหรัฐอเมริกา ) 15 kV
ลำแสงอิเล็กตรอนที่ถูกใช้